[发明专利]一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备在审
申请号: | 202011045293.7 | 申请日: | 2020-09-28 |
公开(公告)号: | CN112129489A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 戴佳峰;李荣华 | 申请(专利权)人: | 厦门天马微电子有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 361101 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示 面板 检测 方法 装置 设备 | ||
本发明公开了一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备。所述显示面板的残像检测方法包括控制显示面板显示预设时长的棋盘格画面,控制显示面板显示具有第三灰阶的纯色画面,纯色画面包括多个子纯色画面,子纯色画面包括中间区和围绕中间区的多个边缘区;检测纯色画面中各边缘区的亮度;根据各边缘区的亮度以及边缘区残像量化值计算公式,计算获得各边缘区的残像量化值,根据各边缘区的残像量化值,确定显示面板的残像量化值。本发明实施例提供的技术方案,提高了显示面板残像量化值的准确性。
技术领域
本发明实施例涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备。
背景技术
显示缺陷检测是显示行业不可或缺的部分,对保证显示面板质量以及控制生产成本具有重要意义。显示缺陷的种类繁多,包括亮度异常点缺陷、亮度异常线缺陷、残像等,其中,残像具有形状不规则和边缘模糊等特点,难以被准确检出。
传统残像检测采用人工视觉方式,准确性较低。为解决上述问题,残像量化已成为目前残像检测的重要方式,但现有技术中残像量化结果与棋盘格画面之前显示的初始画面的亮度稳定性,显示面板本身的亮度均一性,以及计算中使用的画面格子数量等相关,导致最终获得的残像量化值的准确性较差。
发明内容
本发明提供一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备,以提高残像量化值的准确性。
第一方面,本发明实施例提供了一种显示面板的残像检测方法,包括:
控制所述显示面板显示预设时长的棋盘格画面,所述棋盘格画面包括多个呈矩阵排列的子画面,多个所述子画面包括多个第一子画面和多个第二子画面,所述第一子画面具有第一灰阶,所述第二子画面具有第二灰阶,沿所述矩阵的行方向和列方向,所述第一子画面和所述第二子画面交替排列;
控制所述显示面板显示具有第三灰阶的纯色画面,所述第三灰阶处于所述第一灰阶和所述第二灰阶之间;所述纯色画面包括多个子纯色画面,所述子纯色画面与所述子画面一一对应,所述子纯色画面和对应所述子画面采用所述显示面板的相同区域内的像素进行显示;所述子纯色画面包括中间区和围绕所述中间区的多个边缘区;
检测所述纯色画面中各所述边缘区的亮度;
根据各所述边缘区的亮度以及边缘区残像量化值计算公式,计算获得各所述边缘区的残像量化值,其中,边缘区残像量化值计算公式为Q=|L1-L2|/[(L1+L2)/2],Q为待计算边缘区的残像量化值,L1为所述待计算边缘区的亮度,L2为相邻边缘区的亮度,所述待计算边缘区和所述相邻边缘区位于相邻两个所述中间区之间且具有公共边;
根据各所述边缘区的残像量化值,确定所述显示面板的残像量化值。
第二方面,本发明实施例还提供了一种显示面板的残像检测装置,包括:
第一控制显示模块,用于控制所述显示面板显示预设时长的棋盘格画面,所述棋盘格画面包括多个呈矩阵排列的子画面,多个所述子画面包括多个第一子画面和多个第二子画面,所述第一子画面具有第一灰阶,所述第二子画面具有第二灰阶,沿所述矩阵的行方向和列方向,所述第一子画面和所述第二子画面交替排列;
第二控制显示模块,用于控制所述显示面板显示具有第三灰阶的纯色画面,所述第三灰阶处于所述第一灰阶和所述第二灰阶之间;所述纯色画面包括多个子纯色画面,所述子纯色画面与所述子画面一一对应,所述子纯色画面和对应所述子画面采用所述显示面板的相同区域内的像素进行显示;所述子纯色画面包括中间区和围绕所述中间区的多个边缘区;
亮度检测模块,用于检测所述纯色画面中各所述边缘区的亮度;
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