[发明专利]一种MCU低功耗模式切换的测试方法、装置及系统

权利要求书

1.一种MCU低功耗模式切换的测试方法，其特征在于，包括：

根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入低功耗模式测试模式的控制信号；

获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号；

向所述待测试MCU发送唤醒信号，所述唤醒信号用于使得待测试MCU退出低功耗模式；

获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二状态检测信号；

根据所述第一状态检测信号与所述第二状态检测信号的比较判断待测试MCU的低功耗模式切换是否正常，并得到判断结果；

将所述判断结果发送至所述上位机进行显示；

根据待测试MCU的设计规格，所述待测试MCU包括多个低功耗模式，所述根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入低功耗模式测试模式的控制信号，包括：

根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入第一低功耗模式测试模式的控制信号，并在对第一低功耗模式测试模式下得到判断结果后，向待测试MCU发送进入第二低功耗模式测试模式的控制信号，并重复与所述第一低功耗模式测试模式下的测试过程，重复上述过程直到完成预设的多个低功耗模式的测试过程；

其中，所述获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号，包括：

获取处于低功耗模式下的待测试MCU 的内核和/或外设设备的第一工作状态信号；或者，

所述获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号，包括：

获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一电流功耗。

2.根据权利要求1所述的MCU低功耗模式切换的测试方法，其特征在于，所述获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二状态检测信号，包括：

获取退出低功耗模式的待测试MCU的内核和/或外设设备的第二工作状态信号。

3.根据权利要求2所述的MCU低功耗模式切换的测试方法，其特征在于，所述根据所述第一状态检测信号与所述第二状态检测信号的比较判断待测试MCU的低功耗模式切换是否正常，并得到判断结果，包括：

比较所述第一工作状态信号与所述第二工作状态信号是否相同；

若所述第一工作状态信号与所述第二工作状态信号相同，则判定所述待测试MCU的低功耗模式切换不正常；

若所述第一工作状态信号与所述第二工作状态信号不同，则判定所述待测试MCU的低功耗模式切换正常。

4.根据权利要求1所述的MCU低功耗模式切换的测试方法，其特征在于，所述获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二状态检测信号，包括：

获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二电流功耗。

5.根据权利要求4所述的MCU低功耗模式切换的测试方法，其特征在于，所述根据所述第一状态检测信号与所述第二状态检测信号的比较判断待测试MCU的低功耗模式切换是否正常，并得到判断结果，包括：

比较所述第一电流功耗是否小于所述第二电流功耗；

若所述第一电流功耗小于所述第二电流功耗，则判定所述待测试MCU的低功耗模式切换正常；

若所述第一电流功耗不小于所述第二电流功耗，则判定所述待测试MCU的低功耗模式切换不正常。

6.一种MCU低功耗模式切换的测试装置，用于实现权利要求1至5中任意一项所述的MCU低功耗模式切换的测试方法，其特征在于，包括：

第一发送模块，用于根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入低功耗模式测试模式的控制信号；

第一获取模块，用于获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号；

第二发送模块，用于向所述待测试MCU发送唤醒信号，所述唤醒信号用于使得待测试MCU退出低功耗模式；

第二获取模块，用于获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二状态检测信号；

比较判断模块，用于根据所述第一状态检测信号与所述第二状态检测信号的比较判断待测试MCU的低功耗模式切换是否正常，并得到判断结果；

第三发送模块，用于将所述判断结果发送至所述上位机进行显示。

7.一种MCU低功耗模式切换的测试系统，其特征在于，包括：上位机、模拟开关、电流采集模块、DC电源和权利要求6所述的MCU低功耗模式切换的测试装置，所述模拟开关和电流采集模块均与所述MCU低功耗模式切换的测试装置通信连接，所述DC电源与所述电流采集模块电连接，所述MCU低功耗模式切换的测试装置与所述上位机通信连接。