[发明专利]一种MCU低功耗模式切换的测试方法、装置及系统

说明书

本发明涉及MCU测试技术领域，具体公开了一种MCU低功耗模式切换的测试方法，其中，包括：根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入低功耗模式测试模式的控制信号；获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号；向所述待测试MCU发送唤醒信号，所述唤醒信号用于使得待测试MCU退出低功耗模式；获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二状态检测信号；根据所述第一状态检测信号与所述第二状态检测信号的比较判断待测试MCU的低功耗模式切换是否正常，并得到判断结果；将所述判断结果发送至所述上位机进行显示。本发明还公开了一种MCU低功耗模式切换的测试装置及系统。本发明提供的MCU低功耗模式切换的测试方法能够实现自动一体化进行测试。

技术领域

本发明涉及MCU测试技术领域，尤其涉及一种MCU低功耗模式切换的测试方法、一种MCU低功耗模式切换的测试装置及低功耗模式切换的测试系统。

背景技术

现在MCU（微控制器）的应用场景中，很多都需要低功耗考虑，即MCU芯片及其方案在工作以及待机或者睡眠状态下的功耗越低越好。MCU的设计会结合不同的应用场景，设计不同功耗等级的低功耗模式，主要可分为正常工作模式，睡眠模式，停止模式以及关断模式等。实际应用中，可通过停止运行程序、切换低频系统时钟、关闭部分外设模块或者关闭时钟等多种方法实现MCU的低功耗。目前MCU正常工作电流消耗大约在几十毫安，而低功耗模式的电流消耗最小为百纳安级。

由于MCU设计的低功耗模式会涉及时钟、复位、FLASH（闪存）等多个核心控制模块的状态，如果低功耗模式切换无法有效、合理、完整的验证、测试，则很有可能因设计的MCU存在功能缺陷导致无法从低功耗模式切换回正常工作模式，从而导致MCU整体设计失败。因此在MCU的前期设计阶段，需要对设计的低功耗模式切换进行完整的验证，以确保设计的低功耗模式切换功能的完整无误。

目前MCU低功耗模式切换的验证、测试主要通过人为手动配置后通过人工观测进行验证测试，暂无现有的装置或方案实现自动一体化的验证、测试。这会导致验证、测试需花费大量的时间以及验证、测试的完整性无法保证。

发明内容

本发明提供了一种MCU低功耗模式切换的测试方法、一种MCU低功耗模式切换的测试装置及低功耗模式切换的测试系统，解决相关技术中存在的无法进行自动一体化测试的问题。

作为本发明的第一个方面，提供一种MCU低功耗模式切换的测试方法，其中，包括：

根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入低功耗模式测试模式的控制信号；

获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号；

向所述待测试MCU发送唤醒信号，所述唤醒信号用于使得待测试MCU退出低功耗模式；

获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二状态检测信号；

根据所述第一状态检测信号与所述第二状态检测信号的比较判断待测试MCU的低功耗模式切换是否正常，并得到判断结果；

将所述判断结果发送至所述上位机进行显示。

进一步地，根据待测试MCU的设计规格，所述待测试MCU包括多个低功耗模式，所述根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入低功耗模式测试模式的控制信号，包括：

根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入第一低功耗模式测试模式的控制信号，并在对第一低功耗模式测试模式下得到判断结果后，向待测试MCU发送进入第二低功耗模式测试模式的控制信号，并重复与所述第一低功耗模式测试模式下的测试过程，重复上述过程直到完成预设的多个低功耗模式的测试过程。

进一步地，所述获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号，包括：

获取处于低功耗模式下的待测试MCU 的内核和/或外设设备的第一工作状态信号。