[发明专利]一种喷丸强化表面覆盖率的检测方法在审

专利信息
申请号: 202011049418.3 申请日: 2020-09-29
公开(公告)号: CN112184670A 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 汪顺利;陈羽雨;万光华;王飞亚;付小强;曹安;李亚萍 申请(专利权)人: 上海飞机制造有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06T11/40
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 易咏梅;蔡勇
地址: 201324 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 强化 表面 覆盖率 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种喷丸强化表面覆盖率的检测方法,所述检测方法包括:

图像获取步骤,在该步骤中利用拍摄系统对经过喷丸处理的零件表面进行拍照以获取所述零件表面的图像;

粗糙度计算步骤,在该步骤中利用平均池化或最大池化算法计算所述图像各区域的粗糙度;

滤波处理步骤,在该步骤中对所述图像进行粗糙度滤波以标识经过喷丸处理的第一区域以及未经过喷丸处理的第二区域;

覆盖率计算步骤,在该步骤中确认所述第一区域在所述图像中的占比以算出喷丸覆盖率。

2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括在所述粗糙度滤波处理步骤之后的纹理滤波处理步骤,所述纹理滤波处理步骤包括:

将由相互连通的第一区域包围的第二区域标识为第一区域。

3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述纹理滤波处理步骤还包括:

将由相互连通的第二区域包围的第一区域标识为第二区域。

4.根据权利要求1或2所述的检测方法,所述粗糙度计算步骤包括:

定义与第一像素点相邻的多个第二像素点;

将所述第一像素点与多个第二像素点进行一一对比以获取第一像素点和各个第二像素点之间的粗糙度偏差;

根据所述粗糙度偏差,基于平均池化算法获取由所述第一像素点以及与该第一像素点相邻的多个第二像素点组成的区域的平均粗糙度,或者基于最大池化算法获取所述区域的最大粗糙度。

5.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,所述滤波处理步骤包括:

步骤1:预设粗糙度阈值;

步骤2:将各个平均粗糙度或最大粗糙度与所述粗糙度阈值进行比较,并将平均粗糙度或最大粗糙度大于所述粗糙度阈值的对应区域采用第一色彩标注,并将其余区域采用不同于第一色彩的第二色彩标注;

步骤3:倘若标注第一色彩的区域大于所述第一区域,将所述粗糙度阈值调大后进入步骤2;倘若标注第一色彩的区域小于所述第一区域,将所述粗糙度阈值调小后进入步骤2;倘若第一色彩的区域与所述第一区域相同,终止所述粗糙度滤波处理步骤。

6.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,多个第二像素点选自位于所述第一像素点的上侧、下侧、左侧、右侧、左上方、左下方、右上方、右下方的像素点中的至少两个。

7.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述拍摄系统包括位于所述零件周围的LED点光源以及具有无形变镜头的面阵相机。

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