[发明专利]一种中子探测器可靠性验证方法及装置有效

专利信息
申请号: 202011049559.5 申请日: 2020-09-29
公开(公告)号: CN112213766B 公开(公告)日: 2023-10-20
发明(设计)人: 常宝富;黄显润;陈臻;高巍;吴长雷;陈邦续;刘桓宇;刘尧 申请(专利权)人: 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
主分类号: G01T3/00 分类号: G01T3/00;G01T7/00
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 代理人: 张亚菊
地址: 518000 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 中子 探测器 可靠性 验证 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种中子探测器可靠性验证方法,其特征在于,包括:

S1、获取中子探测器输出的原始脉冲,对所述原始脉冲预处理以得到处理后的初始脉冲;

S2、对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号,并设定一识别阈值对所述采样信号进行识别以获取满足所述识别阈值的采样信号为有效采样信号以缓存;

S3、获取所述有效采样信号并对所述有效采样信号通过预设算法进行恢复得到有效脉冲;

S4、根据所述有效脉冲的幅值和面积以获取所述中子探测器的性能。

2.根据权利要求1所述的中子探测器可靠性验证方法,其特征在于,在所述步骤S1中,所述对所述原始脉冲预处理包括:

对所述原始脉冲进行放大处理。

3.根据权利要求2所述的中子探测器可靠性验证方法,其特征在于,所述对所述原始脉冲进行放大处理包括:

对所述原始脉冲进行两级放大,其中第一级放大的放大倍数为120倍,第二级放大的放大倍数为10倍。

4.根据权利要求3所述的中子探测器可靠性验证方法,其特征在于,还包括:在第二级放大时对所述原始脉冲进行反向处理。

5.根据权利要求1所述的中子探测器可靠性验证方法,其特征在于,在所述步骤S2中,所述对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号包括:

对所述初始脉冲进行采用频率为1GHz的高速ADC采样以获取所述采样信号。

6.一种中子探测器可靠性验证装置,其特征在于,包括:

获取单元,用于获取中子探测器的输出的原始脉冲;

预处理单元,用于对所述原始脉冲预处理以得到处理后的初始脉冲;

采样单元,用于对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号;

识别单元,用于设定一识别阈值对所述采样信号进行识别以获取满足所述识别阈值的采样信号为有效采样信号并缓存;

信号恢复单元,用于获取所述有效采样信号并对所述有效采样信号通过预设算法进行恢复得到有效采样脉冲;

判定单元,用于根据所述有效采样脉冲的幅值和面积以获取所述探测器的性能。

7.根据权利要求6所述的中子探测器可靠性验证装置,其特征在于,

所述预处理单元包括第一放大单元和第二放大单元;

所述第一放大单元用于对所述原始脉冲进行一级放大,

所述第二放大单元用于对所述第一放大单元的输出脉冲进行二级放大。

8.根据权利要求7所述的中子探测器可靠性验证装置,其特征在于,所述第一放大单元为放大倍数为120倍放大的放大器;

所述第二放大单元为放大倍数为10倍放大的放大器。

9.根据权利要求8所述的中子探测器可靠性验证装置,其特征在于,所述第二放大单元还用于对所述原始脉冲进行反向处理。

10.根据权利要求6所述的中子探测器可靠性验证装置,其特征在于,所述采样单元包括采用频率为1GHz的高速ADC采样装置。

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