[发明专利]一种中子探测器可靠性验证方法及装置

说明书

本发明涉及一种中子探测器可靠性验证方法及装置，包括：S1、获取中子探测器输出的原始脉冲，对所述原始脉冲预处理以得到处理后的初始脉冲；S2、对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号，并设定一识别阈值对所述采样信号进行识别以获取满足所述识别阈值的采样信号为有效采样信号以缓存；S3、获取所述有效采样信号并对所述有效采样信号通过预设算法进行恢复得到有效脉冲；S4、根据所述有效脉冲的幅值和面积以获取所述中子探测器的性能。实施本发明能够达到根据采集脉冲进行频谱分析以达到评估探测器的可靠性的目的，其评价结果更加准确。

技术领域

本发明涉及设备检测技术领域，更具体地说，涉及一种中子探测器可靠性验证方法及装置。

背景技术

国内大部分核电站的核仪表测量系统(RPN)均选用中子探测器，进行堆外中子通量测量。在探测器出厂前厂家会对备件进行性能测试，并给出质量报告。

根据目前探测器的使用情况，探测器出现了快速降级老化问题，其中以源量程探测器尤为突出。源量程探测器现有老化评估技术手段是绘制探测器的甄别阈曲线和高压坪曲线，通过曲线形状的变化进行老化评估。而如图5所示，坪曲线采用的经过放大甄别后的标准脉冲个数与电压和甄别阈的关系曲线来分析探测器性能的。根据目前的实际情况看，现有技术手段无法满足现场实际需求。进行源量程探头老化判断的过程中，且采用的是经过放大甄别后的标准脉冲个数与电压和甄别阈的关系曲线来分析探测器性能的。这种试验原理无法分析原始脉冲在探测器老化过程中的趋势变化,导致无法满足目前探测器寿命预测的需求。不同使用年限的探测器，因其填充气体有杂质，消耗或者是有漏气最终都会因为填充气体成分的变化而影响到探测器的放大功能，影响到脉冲的幅值和面积。经过甄别后的脉冲是标准脉冲，幅值和面积都是提前设计好的，没有分析价值了。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述过程不能满足现场实际需求的缺陷，提供一种中子探测器可靠性验证方法及装置。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种中子探测器可靠性验证方法，包括：

S1、获取中子探测器输出的原始脉冲，对所述原始脉冲预处理以得到处理后的初始脉冲；

S2、对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号，并设定一识别阈值对所述采样信号进行识别以获取满足所述识别阈值的采样信号为有效采样信号以缓存；

S3、获取所述有效采样信号并对所述有效采样信号通过预设算法进行恢复得到有效脉冲；

S4、根据所述有效脉冲的幅值和面积以获取所述中子探测器的性能。

优选地，在所述步骤S1中，所述对所述原始脉冲预处理包括：

对所述原始脉冲进行放大处理。

优选地，所述对所述原始脉冲进行放大处理包括：

对所述原始脉冲进行两级放大，其中第一级放大的放大倍数为120倍，第二级放大的放大倍数为10倍。

优选地，本发明的一种中子探测器可靠性验证方法，还包括：在第二级放大时对所述原始脉冲进行反向处理。

优选地，在所述步骤S2中，所述对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号包括：

对所述初始脉冲进行采用频率为1GHz的高速ADC采样以获取所述采样信号。

本发明还构造一种中子探测器可靠性验证装置，包括：

获取单元，用于获取中子探测器的输出的原始脉冲；

预处理单元，用于对所述原始脉冲预处理以得到处理后的初始脉冲；

采样单元，用于对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号；