[发明专利]图像传感器芯片级封装及制造方法有效
申请号: | 202011051168.7 | 申请日: | 2020-09-29 |
公开(公告)号: | CN112652638B | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 叶剑蝉;郭盈志 | 申请(专利权)人: | 豪威科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/56 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 王达佐;王艳春 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 芯片级 封装 制造 方法 | ||
1.一种用于制造图像传感器芯片级封装的方法,包括:
用临时粘合剂将玻璃晶片接合至包括图像传感器阵列的器件晶片;
在所述接合之后,将所述器件晶片的厚度减小到小于100微米;
从所述器件晶片中移除多个传感器间区域中的每个,每个传感器间区域均位于所述图像传感器阵列的相应的一对图像传感器之间,以形成隔离管芯晶片,所述隔离管芯晶片包括多个图像传感器管芯,每个图像传感器管芯均包括接合至所述玻璃晶片的所述图像传感器阵列的相应图像传感器;
封装所述隔离管芯晶片,以形成封装管芯晶片;
从所述多个图像传感器管芯的每个中移除覆盖所述相应图像传感器的所述玻璃晶片的相应区域;以及
将所述封装管芯晶片单体化。
2.根据权利要求1所述的方法,移除所述玻璃晶片的相应区域包括:从所述隔离管芯晶片移除所述玻璃晶片,并且在从所述隔离管芯晶片移除所述玻璃晶片之后,进行将所述封装管芯晶片单体化。
3.根据权利要求2所述的方法,所述单体化产生所述图像传感器芯片级封装,并且所述方法还包括:在移除所述玻璃晶片的相应区域之后且在所述单体化之后,将所述图像传感器芯片级封装表面安装至印刷电路板。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述单体化发生在移除所述玻璃晶片的相应区域之前,并且包括:将所述封装管芯晶片和接合至所述封装管芯晶片的所述玻璃晶片二者单体化,并产生具有覆盖玻璃的所述图像传感器芯片级封装,所述覆盖玻璃接合至所述图像传感器芯片级封装并且对应于所述玻璃晶片的所述相应区域。
5.根据权利要求4所述的方法,还包括:在所述单体化之后和移除所述玻璃晶片的所述相应区域之前,将所述图像传感器芯片级封装表面安装至印刷电路板。
6.根据权利要求1所述的方法,封装所述隔离管芯晶片包括:用模制化合物封装所述隔离管芯晶片。
7.根据权利要求6所述的方法,用模制化合物封装所述隔离管芯晶片包括以下中的一个:压缩模制所述模制化合物和传递模制所述模制化合物。
8.根据权利要求6所述的方法,所述模制化合物在低于其玻璃化转变温度的温度下具有小于15ppm/K的第一热膨胀系数,以及在高于所述玻璃化转变温度的温度下具有小于30ppm/K的第二热膨胀系数。
9.根据权利要求6所述的方法,所述模制化合物具有超过24GPa的杨氏模量。
10.根据权利要求6所述的方法,所述模制化合物包括环氧树脂、催化剂和脱模剂。
11.根据权利要求6所述的方法,所述模制化合物包括无机填充剂,所述无机填充剂的质量分数在70%与80%之间。
12.一种图像传感器芯片级封装,包括:
半导体管芯,具有小于100微米的厚度,并且包括图像传感器,所述图像传感器配置为检测入射到所述半导体管芯的顶侧上的光;
电介质层,在所述半导体管芯的与所述顶侧相对的底侧上,所述底侧位于所述电介质层和所述顶侧之间;
封装层,由模制化合物形成,所述电介质层在所述封装层和所述半导体管芯之间;以及
多个导电元件,每个导电元件均电连接至所述图像传感器,直径在一百微米与五百微米之间,以及穿过所述封装层突出。
13.根据权利要求12所述的图像传感器芯片级封装,所述模制化合物在低于其玻璃化转变温度的温度下具有小于15ppm/K的第一热膨胀系数,以及在高于所述玻璃化转变温度的温度下具有小于30ppm/K的第二热膨胀系数。
14.根据权利要求13所述的图像传感器芯片级封装,其中,所述玻璃化转变温度在140℃与180℃之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的