[发明专利]一种用于光学镜片打磨平整度检测的检测设备

权利要求书

1.一种用于光学镜片打磨平整度检测的检测设备，包括壳体（3），其特征在于：所述壳体（3）的内表面转动连接有限位连杆（13），所述限位连杆（13）远离壳体（3）的一端转动连接有第一滑块（14），所述第一滑块（14）在固定框（9）的内部滑动，所述固定框（9）的下表面固定连接有轴承座（16），所述轴承座（16）的底端转动连接有蜗杆（4），所述蜗杆（4）的底端固定连接有触杆（1），所述壳体（3）的内部固定连接有固定圈（2），所述壳体（3）的内表面且位于限位连杆（13）的外侧固定连接有限位框（10）；

所述固定圈（2）的上表面且位于触杆（1）的两侧均固定连接有弹簧撑杆（5），所述弹簧撑杆（5）的顶端固定连接有调节块（20），所述调节块（20）的内部固定连接有滑轨（7），所述调节块（20）的左侧固定连接有齿牙（17），所述滑轨（7）的内部滑动连接有第二滑块（19），所述滑轨（7）的内表面固定连接有磁块（18），所述第二滑块（19）的前表面转动连接有连接杆（6），所述连接杆（6）远离第二滑块（19）的一端与调节块（20）的外表面底端转动连接，所述限位框（10）的内部滑动连接有滑框（12），所述滑框（12）的下表面固定连接有弹簧支撑杆（8），所述弹簧支撑杆（8）远离滑框（12）的一端与连接杆（6）转动连接；

所述第一滑块（14）的数量为两个，所述第一滑块（14）为左右对称设置在固定框（9）的内部，所述第一滑块（14）的相对面之间通过连接弹簧（15）弹性连接；

所述固定圈（2）与壳体（3）之间设置6个检测触杆结构。

2.根据权利要求1所述的一种用于光学镜片打磨平整度检测的检测设备，其特征在于：所述触杆（1）贯穿于固定圈（2）的上表面，所述触杆（1）与固定圈（2）滑动连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于光学镜片打磨平整度检测的检测设备，其特征在于：所述齿牙（17）的尺寸与蜗杆（4）的尺寸相适配，所述齿牙（17）与蜗杆（4）相互啮合。

4.根据权利要求1所述的一种用于光学镜片打磨平整度检测的检测设备，其特征在于：所述蜗杆（4）贯穿于调节块（20）的上表面，所述蜗杆（4）与调节块（20）转动连接。

5.根据权利要求1所述的一种用于光学镜片打磨平整度检测的检测设备，其特征在于：所述第二滑块（19）的尺寸与滑轨（7）的尺寸相适配，所述第二滑块（19）与滑轨（7）滑动连接。