[发明专利]图像处理方法、图像处理装置、可读介质及其电子设备有效

专利信息
申请号: 202011061555.9 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112202986B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 沈超;刘宇轩;凌晨;孙滨璇;惠岩;王晗 申请(专利权)人: 安谋科技(中国)有限公司
主分类号: H04N23/81 分类号: H04N23/81
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 200233 上海市闵行*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 方法 装置 可读 介质 及其 电子设备
【权利要求书】:

1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:

获取电子设备的相机拍摄的待校正图像、所述待校正图像在不同径向的缩放系数以及亮度参考点的坐标值;

根据所述缩放系数、所述待校正图像上各第一像素点的坐标、所述待校正图像的亮度参考点的坐标值,计算所述待校正图像上各所述第一像素点到所述待校正图像的亮度参考点之间的缩放距离;

基于所述待校正图像上各所述第一像素点到所述待校正图像的亮度参考点之间的缩放距离,确定各所述第一像素点的校正系数,其中与所述亮度参考点之间的物理距离相同而亮度不同的像素点具有不同的所述缩放距离,并且与所述亮度参考点之间的缩放距离不同的像素点具有不同的校正系数;

基于各所述第一像素点的校正系数对各所述第一像素点的亮度进行校正,得到校正后的图像;

其中,通过以下方式确定用于计算所述缩放距离的各所述缩放系数:

获取样本图像中各第二像素点的坐标和所述坐标对应的校正系数;

基于各所述第二像素点的坐标和所述坐标对应的校正系数建立表示校正系数与像素点的缩放距离之间关系的一维校正曲线;

通过所述样本图像中各所述第二像素点的坐标和各所述第二像素点对应的校正系数拟合所述一维校正曲线,得到所述缩放系数和所述亮度参考点的坐标值;并且

所述获取样本图像中各第二像素点的坐标和所述坐标对应的校正系数,包括:

采用所述相机拍摄所述样本图像得到样本阴影图像,其中,所述样本图像中各所述第二像素点的亮度值相同;

计算所述样本阴影图像中各第三像素点的亮度值与亮度参考点的亮度值之间的比值,并将所述比值作为所述校正系数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在二维坐标系中,通过以下公式计算坐标为(x, y)的像素点与所述亮度参考点之间的缩放距离:

r = 

其中, (x0,y0)表示所示亮度参考点在二维坐标系中的坐标,、分别为横坐标缩放系数和纵坐标缩放系数,其中所述横坐标缩放系数和纵坐标缩放系数使得所述待校正图像中,与所述亮度参考点之间的物理距离相同而亮度不同的像素点具有不同的所述缩放距离。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在二维坐标系中,通过以下公式计算坐标为(x,y)的像素点与所述亮度参考点之间的缩放距离:

r = 

其中, (x0,y0)表示所示亮度参考点在二维坐标系中的坐标;并且

当时,=,表示二维坐标系上横轴正方向的缩放系数,当时,=,表示二维坐标系上横轴负方向的缩放系数,当y时,=,表示二维坐标系上纵轴正方向的缩放系数,当y时,=,表示二维坐标系上纵轴负方向的缩放系数,其中、使得所述待校正图像中,与所述亮度参考点之间的物理距离相同而亮度不同的像素点具有不同的所述缩放距离。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过以下公式表示所述一维校正曲线:

g = ar2 + br + c

其中,g表示校正系数,a、b、c表示一元二次多项式的拟合系数。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,还包括:

按照预设的规则从所述一维校正曲线上抽取多个像素点的缩放距离和对应的校正系数并存储;

基于所述存储的多个像素点的缩放距离和对应的校正系数,通过插值算法计算待校正像素点的校正系数。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,按照预设的规则从所述一维校正曲线上抽取多个像素点的缩放距离和对应的校正系数并存储,包括:

每间隔多个像素点抽取一个像素点的缩放距离和该像素点对应的校正系数,其中,被抽取的相邻两个像素点对应的校正系数的差值小于差值阈值;并且

所述被抽取的相邻两个像素点的缩放距离R(i)和R(i-1)满足以下关系:

R(i) - R(i-1) = 2n (n = 0,1,2,…)。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述插值算法为线性插值算法。

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