[发明专利]一种接合齿花键M值测量装置

权利要求书

1.一种接合齿花键M值测量装置，其特征在于：包括底座和千分表，所述底座上固定有用于支撑待测工件的定位座以及定位待测工件的定位芯轴，定位芯轴的左、右两侧分别设有测量柱，两个测量柱分别固定在两个支座上，两个支座中的第一支座固定在底座上，两个支座中的第二支座固定在滑动块上，所述滑动块与底座滑动配合，所述滑动块上固定有对表座，所述对表座与千分表的测头接触。

2.根据权利要求1所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：所述底座的上端面沿轴线X方向布置有滑槽，轴线X分别经过定位芯轴以及两个测量柱的中心，所述滑动块与底座的滑槽滑动配合，使滑动块可沿轴线X方向移动。

3.根据权利要求2所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：还包括弹簧，所述弹簧安装在导向螺栓上并且弹簧的两端分别与底座的滑槽端面、滑动块的端面接触；所述导向螺栓固定在底座上，并沿轴线X方向延伸，导向螺栓的端头与滑动块设有的导向孔间隙配合。

4.根据权利要求1或2所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：所述底座上固定有导向压块，所述滑动块的上表面与导向压块的下表面接触；所述滑动块的侧面与导向压块的侧面接触。

5.根据权利要求2所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：所述底座上固定有两支撑板，两个支撑板分别平行于轴线X对称布置在轴线X两侧，所述定位座固定支撑在两个支撑板上，所述定位座设有通孔，所述定位芯轴的下端固定在底座上，定位芯轴的上端穿过定位座的通孔，用于与待测工件的内孔配合；测量柱的下端与支座固定连接，测量柱的上端穿过定位座的通孔，用于与待测工件的接合齿花键槽接触。

6.根据权利要求1或5所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：所述定位芯轴上端的圆周壁上固定有柱塞，用于顶住待测工件的内孔。

7.根据权利要求1或5所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：所述测量柱的上端设有测量头；测量柱上端的测量头为球头。

8.根据权利要求1所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：第一支座固定在定位垫块上，定位垫块固定在底座上。

9.根据权利要求1所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：所述定位芯轴的下端安装在底座上固定的套筒内，定位芯轴为上大下小的阶梯轴，定位芯轴的台阶端面与底座接触。

10.根据权利要求1所述的接合齿花键M值测量装置，其特征在于：所述对表座固定在滑动块的侧面，所述千分表安装在底座上。