[发明专利]一种检测设备的检测方法及检测装置

权利要求书

1.一种检测设备的检测方法，其特征在于，所述检测设备具有测量方向、根据所述测量方向确定的设备参考系以及与所述测量方向对应的基准方向，待测物上包括第一特征点和第二特征点，所述检测设备包括检测模块，所述方法包括：

在所述检测模块和所述第一特征点具有第一相对位置时，利用所述检测设备对所述第一特征点进行第一检测，获取所述第一特征点在所述设备参考系中的第一位置信息；在所述第一相对位置时所述检测模块与所述第一特征点之间具有第一距离矢量；

在所述检测模块和所述第二特征点具有第二相对位置时，利用所述检测设备对所述第二特征点进行第二检测，获取所述第二特征点在所述设备参考系中的第二位置信息；在所述第二相对位置处所述检测模块与所述第二特征点之间具有第二距离矢量，所述第一距离矢量和所述第二距离矢量在所述基准方向上具有第一预设差值，所述第一预设差值为非零值；

根据所述第一预设差值、所述第一位置信息和所述第二位置信息，获取所述基准方向和所述测量方向之间的待测夹角；

所述根据所述第一预设差值、所述第一位置信息和所述第二位置信息，获取所述基准方向和所述测量方向之间的待测夹角，包括：

根据所述第一位置信息及所述待测夹角获取第一特征点和第二基准点在沿所述基准方向上的第一位移表达式；

根据所述第二位置信息及所述待测夹角获取第二特征点和所述第二基准点在沿所述基准方向上的第二位移表达式；

根据所述第一位移表达式、所述第二位移表达式和所述第一预设差值建立关系等式；

根据所述关系等式获取所述待测夹角。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测模块具有第一基准点，所述待测物具有第二基准点，所述第二基准点位于所述设备参考系中，且在所述设备参考系中具有固定位置；

所述第一位置信息包括：在所述第一相对位置处所述第一基准点与所述第二基准点在沿所述基准方向的第一基准位移，以及所述第一特征点与所述第一基准点之间的第一特征位移；

所述第二位置信息包括：在所述第二相对位置处所述第一基准点与所述第二基准点在沿所述基准方向的第二基准位移，以及所述第二特征点与所述第一基准点之间的第二特征位移。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

根据所述第一位置信息及所述待测夹角获取第一特征点和所述第二基准点在沿所述基准方向上的第一位移表达式的步骤包括：根据所述第一特征位移及所述待测夹角，获取所述第一特征位移在所述基准方向上的第一关系表示；根据所述第一基准位移和所述第一关系表示的矢量和，获取所述第一位移表达式；

和/或，

根据所述第二位置信息及所述待测夹角获取第二特征点和所述第二基准点在沿所述基准方向上的第二位移表达式的步骤包括：根据所述第二特征位移及所述待测夹角，获取所述第二特征位移在所述基准方向上的第二关系表示；根据所述第二基准位移和所述第二关系表示的矢量和，获取所述第二位移表达式。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述检测模块用于根据测量特征点与所述第一基准点沿检测模块的光轴方向的固有距离在所述测量方向的投影，获取所述测量特征点与所述第一基准点沿所述测量方向的特征距离；所述测量方向与所述检测模块的光轴方向之间具有预设夹角；所述测量特征点包括第一特征点和第二特征点，所述第一特征点与所述第一基准点沿所述测量方向的特征距离为所述第一特征位移，所述第二特征点与所述第一基准点沿所述测量方向的特征距离为所述第二特征位移；

根据所述第一特征位移及所述待测夹角，获取所述第一特征位移在所述基准方向上的第一关系表示的步骤包括：根据预设角度获取所述第一特征位移在所述光轴方向的逆投影，得到第一固有距离；根据所述预设角度和待测角度，获取所述第一固有距离在所述基准方向上的投影，得到第一关系表示；

根据所述第二特征位移及所述待测夹角，获取所述第二特征位移在所述基准方向上的第二关系表示的步骤包括：根据所述预设夹角获取所述第二特征位移在所述光轴方向的逆投影，得到第二固有距离；根据所述预设角度和待测角度，获取所述第二固有距离在所述基准方向上的投影，得到第二关系表示。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预设夹角等于零度，或者所述预设夹角为锐角。