[发明专利]一种检测设备的检测方法及检测装置有效
申请号: | 202011064650.4 | 申请日: | 2020-09-30 |
公开(公告)号: | CN112161598B | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
发明(设计)人: | 陈鲁;吕肃;李青格乐;方一;张嵩 | 申请(专利权)人: | 深圳中科飞测科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 柳虹 |
地址: | 518109 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 设备 方法 装置 | ||
本申请实施例公开了一种检测设备的检测方法及检测装置,检测设备具有测量方向、根据测量方向确定的设备参考系以及与测量方向对应的基准方向,检测设备包括检测模块,待测物上包括第一特征点和第二特征点,则可以在检测模块和第一特征点具有第一相对位置时,利用检测设备对第一特征点进行第一检测,而后,在检测模块和第二特征点具有第二相对位置时,利用检测设备对第二特征点进行第二检测,从而可以根据检测结果以及第一特征点和第二特征点的固有位置关系获取基准方向和测量方向之间的待测夹角,以提高检测设备的检测准确性,且该方法中确定待测夹角的方式仅需要两个沿基准方向距离已知的特征点,操作简单。
技术领域
本申请涉及检测领域,特别是涉及一种检测设备的检测方法及检测装置。
背景技术
目前,可以利用检测设备对待测物上的特征点进行检测,获取物体的特征,例如可以利用检测设备对待测物体进行检测,从而得到检测设备与待测物体上的特征点之间的距离,进而根据检测结果确定待测物的形貌。具体的,检测设备可以向待测物体发射检测光,检测光经待测物体表面反射后,反射光被检测设备接收,根据检测光和反射光的特征可以计算得到检测设备与待测物体表面的距离。
在对特征点进行检测的检测过程中,可以为检测设备预设基准方向,通过检测设备的检测特性、固定方向以及对检测设备的检测结果的分析,可以将检测设备得到的检测结果处理为沿基准方向的位置信息,从而确定特征点的实际位置。其中,对于多个特征点而言,基准方向是一致的,从而可以体现各个特征点的相对位置。例如基准方向为竖直方向时,特征点在基准方向的位置信息可以通过各个特征点的高度体现,检测设备的固定方向可以有多种对应不同的分析过程,从而利用对特征点的检测结果得到特征点的高度。也就是说,检测设备的检测特性、固定方向以及检测结果的分析过程是对应的,从而可以将检测结果转换为沿基准方向的位置信息。
然而在检测设备的固定过程中可能存在固定误差,在检测特性和对检测结果的分析过程不变的情况下,得到的位置信息不再是沿着基准方向,而是沿着与基准方向有一定夹角的方向,这个方向可以作为实际测量方向,实际测量方向和基准方向之间的夹角,与检测设备的固定过程中的误差相关。举例来说,基准方向为竖直方向时,可以将测高设备竖直向下固定,这样检测得到的测高设备与特征点的距离沿竖直方向,可以作为测高设备与特征点的高度差,从而用于确定特征点的高度,而在测高设备并非竖直向下固定,而是与竖直方向存在一定角度时,测高设备与特征点的距离不再沿着竖直方向,而是沿着实际测量方向,因此将不能作为测高设备与特征点的高度差。
因此,在检测设备存在固定误差时,基于检测结果分析得到的位置信息也存在误差,导致检测设备的检测准确性较低。
发明内容
为解决上述技术问题,本申请实施例提供一种检测设备的检测方法及检测装置,准确确定出检测设备的测量方向与基准方向的夹角,以提高检测设备的检测准确性。
本申请实施例提供了一种检测设备的检测方法,所述检测设备具有测量方向、根据所述测量方向确定的设备参考系以及与所述测量方向对应的基准方向,待测物上包括第一特征点和第二特征点,所述检测设备包括检测模块,所述方法包括:
在所述检测模块和所述第一特征点具有第一相对位置时,利用所述检测设备对所述第一特征点进行第一检测,获取所述第一特征点在所述设备参考系中的第一位置信息;在所述第一相对位置时所述检测模块与所述第一特征点之间具有第一距离矢量;
在所述检测模块和所述第二特征点具有第二相对位置时,利用所述检测设备对所述第二特征点进行第二检测,获取所述第二特征点在所述设备参考系中的第二位置信息;在所述第二相对位置处所述检测模块与所述第二特征点之间具有第二距离矢量,所述第一距离矢量和所述第二距离矢量在所述基准方向上具有第一预设差值,所述第一预设差值为非零值;
根据所述第一预设差值、所述第一位置信息和所述第二位置信息,获取所述基准方向和所述测量方向之间的待测夹角。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳中科飞测科技股份有限公司,未经深圳中科飞测科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011064650.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。