[发明专利]一种eMMC的测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 202011066427.3 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112133357B 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 张小东;杜兆航;陈宗廷;李斌 申请(专利权)人: 深圳市宏旺微电子有限公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 叶思
地址: 518000 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 emmc 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种eMMC的测试方法,其特征在于,包括:

基于随机算法确定eMMC的目标区域内的测试区域;所述目标区域为所述eMMC的任一分区;

将底层样式数据写入所述目标区域内的各个扇区,再将背景样式数据写入所述测试区域内的各个扇区;

对所述测试区域执行断电验证操作,得到所述测试区域的验证状态;

获取验证周期数,以生成每个验证周期确定的测试区域的验证状态;所述验证周期数用于确定执行基于随机算法确定所述eMMC的目标区域内的测试区域的周期次数;

若任一验证周期对应的测试区域的验证状态为未通过,则确定所述eMMC的测试结果为未通过;

若所有验证周期对应的测试区域的验证状态均为通过,则对所述目标区域进行数据验证;

基于所述目标区域的数据验证结果确定所述eMMC的测试结果。

2.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试区域包括多个动态区域以及多个静态区域;所述对所述测试区域执行断电验证操作,得到所述测试区域的验证状态,包括:

随机生成N个测试样式数据并将所述N个测试样式数据依次写入目标动态区域内的各个扇区;所述N为大于1的整数;所述目标动态区域为所述测试区域内的任一动态区域;

在将第N测试样式数据写入所述目标动态区域内的各个扇区的过程中,对所述eMMC进行断电,并在预设时长后重新对所述eMMC进行上电;

对所述目标动态区域进行数据验证;

若所述目标动态区域的数据验证结果为未通过,则标识所述测试区域的验证状态为未通过;

若所述测试区域内所有动态区域的数据验证结果均为通过,则对所述测试区域内所有静态区域进行数据验证;

若所述所有静态区域内的数据均为所述背景样式数据,则标识所述测试区域的验证状态为通过。

3.如权利要求2所述的测试方法,其特征在于,所述对所述目标动态区域进行数据验证,包括:

获取所述eMMC的断电时刻对应的理论写入位置;

根据所述目标动态区域的数据确定实际写入位置;

若所述理论写入位置与所述实际写入位置的差值大于预设的允许误差值,则将所述目标动态区域的数据验证结果识别为未通过。

4.如权利要求1-3任一项所述的测试方法,其特征在于,所述基于所述测试区域的验证状态确定所述eMMC的测试结果,包括:

基于所述测试区域的验证状态确定所述目标区域的测试结果;

基于所述eMMC内所有分区的测试结果确定所述eMMC的测试结果。

5.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述基于随机算法确定所述eMMC的目标区域内的测试区域之前,还包括:

对所述eMMC进行上电初始化处理并将所述eMMC的工作状态调整至传输状态。

6.一种测试装置,其特征在于,包括:

测试区域确定模块,用于基于随机算法确定eMMC的目标区域内的测试区域;所述目标区域为所述eMMC的任一分区;

样式数据写入模块,用于将底层样式数据写入所述目标区域内的各个扇区,再将背景样式数据写入所述测试区域内的各个扇区;

断电验证模块,用于对所述测试区域执行断电验证操作,得到所述测试区域的验证状态;

验证周期数获取模块,用于获取验证周期数,以生成每个验证周期确定的测试区域的验证状态;所述验证周期数用于确定执行基于随机算法确定所述eMMC的目标区域内的测试区域的周期次数;

测试结果确定模块,用于若任一验证周期对应的测试区域的验证状态为未通过,则确定所述eMMC的测试结果为未通过;以及若所有验证周期对应的测试区域的验证状态均为通过,则对所述目标区域进行数据验证;基于所述目标区域的数据验证结果确定所述eMMC的测试结果。

7.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述的方法。

8.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的方法。

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