[发明专利]一种eMMC的测试方法及装置

说明书

本申请适用于存储体件领域，提供了一种eMMC的测试方法及装置，所述测试方法包括：基于随机算法确定eMMC的目标区域内的测试区域；所述目标区域为所述eMMC的任一分区；将底层样式数据写入所述目标区域内的各个扇区，再将背景样式数据写入所述测试区域内的各个扇区；对所述测试区域执行断电验证操作，得到所述测试区域的验证状态；基于所述测试区域的验证状态确定所述eMMC的测试结果。本申请通过随机选取测试区域进行测试，增加选取到异常区域作为测试区域的概率，可以提高测试效果，解决现有技术中通过断电验证测试eMMC的断电数据保护性能的效果不佳导致可能存在经过测试的eMMC在实际使用时断电造成数据错误的问题。

技术领域

本申请属于存储体件领域，尤其涉及一种eMMC的测试方法及装置。

背景技术

eMMC(Embedded Multi Media Card，嵌入式多媒体卡)常用于手机、平板电脑、通信设备中，作为存储设备。这些设备常常会存在没电情况，而如果对eMMC正常写入数据的过程中发生断电，可能会造成数据错误、异常等情况，从而降低了设备的稳定性。因此需要对eMMC进行断电性能测试，以保证该eMMC具有较强的断电保护能力。

但是，现有技术中的eMMC测试，在断电时，一般是向eMMC内固定大小的某固定区域写入固定样式数据以进行断电测试验证，这样的断电测试验证不够严谨，可能导致通过该断电测试验证的eMMC在实际使用时断电造成数据错误，也即该断电测试验证的测试效果欠佳。

发明内容

本申请实施例提供了一种eMMC的测试方法及装置，通过随机选取测试区域进行测试，可以提高测试效果，解决现有技术中通过断电验证测试eMMC的断电数据保护性能的效果不佳导致可能存在经过测试的eMMC在实际使用时断电造成数据错误的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种eMMC的测试方法，包括：基于随机算法确定eMMC的目标区域内的测试区域；所述目标区域为所述eMMC的任一分区；将底层样式数据写入所述目标区域内的各个扇区，再将背景样式数据写入所述测试区域内的各个扇区；对所述测试区域执行断电验证操作，得到所述测试区域的验证状态；基于所述测试区域的验证状态确定所述eMMC的测试结果。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述基于所述测试区域的验证状态确定所述eMMC的测试结果，包括：基于所述eMMC所有分区对应的测试区域的验证状态确定所述eMMC的测试结果。

应理解，一般地，只需要随机选取该eMMC的其中一个分区，也即目标区域，基于该目标区域对应的测试区域的验证状态即可确定该eMMC的测试结果。上述一种可能的实现方式中，基于该eMMC所有分区对应的测试区域的验证状态确定该eMMC的测试结果，也即只有该eMMC所有分区对应的测试区域的验证状态为通过时该eMMC的测试结果才为通过，相对来说测试更加严格，且测试的效率降低资源消耗提高，可以根据需求执行该可能的实现方式提供的测试方法。

第二方面，本申请实施例提供了一种eMMC的测试装置，包括：测试区域确定模块，用于基于随机算法确定eMMC的目标区域内的测试区域；所述目标区域为所述eMMC的任一分区；样式数据写入模块，用于将底层样式数据写入所述目标区域内的各个扇区，再将背景样式数据写入所述测试区域内的各个扇区；断电验证模块，用于对所述测试区域执行断电验证操作，得到所述测试区域的验证状态；测试结果确定模块，用于基于所述测试区域的验证状态确定所述eMMC的测试结果。

第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面中任一项所述的方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，包括：所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一项所述的方法。