[发明专利]散装无序电子元器件的自动翻面排料方法

说明书

本发明提供了一种散装无序电子元器件的自动翻面排料方法，属于电子封装技术领域，自动翻面机构的第一翻面托盘和第二翻面托盘在驱动组件的驱动下，具有180°正反旋转的自由度；方法包括：建立各电子元器件的位置坐标系；获取第一翻面托盘上的电子元器件的形位参数；根据正置的电子元器件的图像，计算各正置的电子元器件在位置坐标系的中心坐标和偏移角度；控制机械手，将正置的电子元器件移至目标位置，完成正置的电子元器件的排料；反置的电子元器件翻面后排序；完成所有电子元器件的规整排料。本发明提供的方法，可以实现电子元器件的自动翻面排料，避免震动排料方式造成的损伤，降低对人工操作的依赖性，节省人力资源，提高工作效率。

技术领域

本发明属于电子封装技术领域，更具体地说，是涉及一种散装无序电子元 器件的自动翻面排料方法。

背景技术

电子元器件可靠性是影响通信、雷达、光伏等多领域电子装备可靠性与功 能的至关重要的因素，有了高可靠的电子元器件，才能制造出高可靠的电子装 备。电子元器件的可靠性评价主要依靠物理试验、环境试验、寿命试验等从不 同方面进行评价。电子元器件物理试验包括外部目检、外形尺寸、粒子碰撞、 噪声试验、X射线检测、密封性试验、声学扫描检测、引线牢固性、内部目检、 键合剪切试验、内部气氛分析、扫描电镜检测等；环境试验包括恒定加速度试 验、冲击试验、温度循环试验、盐雾试验、霉菌试验等；寿命试验包括老炼、 稳态寿命试验、高温贮存试验、加速寿命试验等，各项试验前后还会根据用户 要求进行电性能测试。

其中，在外形尺寸、X射线检测、声学扫描检测、扫描电镜检测、恒定加 速度试验、老炼、稳态寿命试验、电性能测试等诸多可靠性评价试验时，需要 将散装无序的电子元器件进行人工排料，以保证试验或测试过程中将元器件整 齐置入指定位置。

由于电子元器件可靠性试验前必须进行的排料工作，在通过人工完成排料 用时约5秒/个，会耗费大量的人力物力，亟需进行智能化自动化替代。

另外，由于电子元器件种类繁多，大小、形状、重量各异，通过传统的震 动排料方法对其进行统一自动排料，会造成电子元器件的损伤、划伤的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种散装无序电子元器件的自动翻面排料方法，旨 在解决人工翻面费时费力，而震动排料容易造成电子元器件损坏的问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：提供一种散装无序电子元器 件的自动翻面排料方法，所述方法基于自动翻面机构，所述自动翻面机构包括 第一翻面托盘和第二翻面托盘，所述第一翻面托盘和所述第二翻面托盘在驱动 组件的驱动下，具有180°正反旋转的自由度；

所述方法包括：

步骤一，建立各所述电子元器件的位置坐标系；

步骤二，获取所述第一翻面托盘上的电子元器件的图像，根据所述图像获 取所述电子元器件的形位参数；

步骤三，获取各正置的电子元器件的图像，并根据所述正置的电子元器件 的图像，计算各正置的所述电子元器件在所述位置坐标系中的中心坐标和偏移 角度；

步骤四，控制机械手，根据所述正置的电子元器件的中心坐标和偏移角度， 抓取所述正置的所述电子元器件，并将其移至目标位置，完成正置的电子元器 件的规整排料；

步骤五，向自动翻面机构发出指令，控制所述第二翻面托盘与所述第一翻 面托盘贴合，压紧所述第一翻面托盘上反置的所述电子元器件，并同步旋转 180°，反置的电子元器件在第二翻面托盘上呈正置状态；

重复执行步骤三至步骤四，完成所有电子元器件的规整排料。

作为本申请另一实施例，步骤二中，在所述第一翻面托盘的下方设有线性 CCD成像装置，利用所述线性CCD成像装置，获取所述第一翻面托盘上的电子 元器件的图像及形位参数。