[发明专利]一种存储芯片的性能检测方法和系统

说明书

本发明提供一种存储芯片的性能检测方法和系统，其中，方法包括：步骤S1：获取存储芯片的标识信息；步骤S2：基于标识信息确定检测方案；步骤S3：基于检测方案对存储芯片进行性能检测，输出性能检测报告；其中，标识信息包括：材质、型号、容量、存储速度、工作温度、响应时间其中一种或多种结合。本发明的存储芯片的性能检测方法，根据存储芯片的标识信息采用针对的检测方案，实现全方位的性能检测。

技术领域

本发明涉及存储芯片检测技术领域，特别涉及一种存储芯片的性能检测方法和系统。

背景技术

目前，存储芯片技术主要集中于企业级存储系统的应用，为访问性能、存储协议、管理平台、存储介质，以及多种应用提供高质量的支持。随着数据的快速增长，数据对业务重要性的日益提升，数据存储市场快速演变。从DAS、NAS、SAN到虚拟数据中心、云计算，无不给传统的存储设计能力提出极大挑战。为了实现存储芯片的合理使用，因此，亟需一种全方面检测存储芯片性能的检测方法，对存储芯片的性能有全方位掌握。

发明内容

本发明目的之一在于提供了一种存储芯片的性能检测方法，根据存储芯片的标识信息采用针对的检测方案，实现全方位的性能检测。

本发明实施例提供的一种存储芯片的性能检测方法，包括：

步骤S1：获取存储芯片的标识信息；

步骤S2：基于标识信息确定检测方案；

步骤S3：基于检测方案对存储芯片进行性能检测，输出性能检测报告；

其中，标识信息包括：材质、型号、容量、存储速度、工作温度、响应时间其中一种或多种结合。

优选的，步骤S2：基于标识信息确定检测方案；包括：

解析标识信息，获取存储芯片的存储速度；

检测方案包括以存储芯片的最大存储速度向存储芯片输入数据，通过贴附在存储芯片表面的温度传感器检测存储芯片的温度曲线；

和/或，

解析标识信息，获取存储芯片的存储速度；

基于存储速度，确定存储芯片的存储频率；

基于存储频率，确定向存储芯片输入数据的多个检测频率；

检测方案包括分别以检测频率向存储芯片输入数据，通过贴附在存储芯片表面的温度传感器检测存储芯片的温度曲线；通过确定与存储芯片连接的存储介质的写入频率，检测存储芯片的存储性能；

和/或，

解析标识信息，获取存储芯片的容量；

检测方案包括基于存储芯片一次存满后释放到与存储芯片连接的存储介质中的数据容量，基于数据容量与容量的比值确定存储芯片的容量性能；

和/或，

解析标识信息，获取存储芯片的响应时间；

基于响应时间，查询预设的响应时间与第一频率曲线的对照表确定第一频率曲线函数；

检测方案包括以第一频率曲线函数确定的输入频率向存储芯片输入数据，通过确定与存储新平连接的存储介质的写入频率的第二频率曲线，基于第一频率曲线与第二频率曲线的相位差确定存储芯片的实测响应时间，基于实测响应时间与标识信息中的响应时间的比值检测存储芯片的响应性能；

和/或，

解析标识信息，获取存储芯片的材质和/或型号；

基于材质和/或型号，查询预设的材质和/或型号与加压测试方案对照表，确定加压测试方案；加压测试方案包括：加压时间、加压压力和加压温度中一种或多种结合；