[发明专利]测试元件组在审
申请号: | 202011079419.2 | 申请日: | 2020-10-10 |
公开(公告)号: | CN112201186A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 吴瑞习 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/36;G01R31/26;G01R1/073;G01R1/18;G01R1/04;H05F3/00 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 何志军 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 元件 | ||
1.一种测试元件组,用于对一阵列基板进行电性测试,其特征在于,所述测试元件组包括:
一测试治具,所述测试治具包括多组探针组,每一组所述探针组用于与一所述阵列基板上多个间隔设置的测试端子电性接触;
静电消除装置,每一所述静电消除装置设置于相邻两所述测试端子之间,用以消除所述探针组上的静电。
2.根据权利要求1所述的测试元件组,其特征在于,所述测试元件组还包括测试机台,所述测试机台与所述多组探针电连接,用于获取所述探侦组上的电信号。
3.根据权利要求1所述的测试元件组,其特征在于,每一所述探针组包括间隔设置的一第一探针和一第二探针,每一所述探针组的所述第一探针、所述第二探针分别用于与一所述测试端子的两端相接触。
4.根据权利要求3所述的测试元件组,其特征在于,所述测试元件组还包括测试机台,所述测试机台与每一所述第一探针电连接并用于获取所述第一探针上的电信号,并且所述测试机台与每一所述第二探针电连接并用于获取所述第二探针上的电信号。
5.根据权利要求4所述的测试元件组,其特征在于,所述测试机台包括一电讯号实时监测仪,所述电讯号实时监测仪用于实时监测所述第一探针、所述第二探针的电信号的大小。
6.根据权利要求5所述的测试元件组,其特征在于,所述电讯号实时侦测仪包括多个侦测端,所述第一探针、所述第二探针分别通过数据信号线与所述侦测端电连接。
7.根据权利要求1所述的测试元件组,其特征在于,所述静电消除装置包括一阻抗元件,所述阻抗元件用于阻隔所述阵列基板的两相邻测试端子之间的通路。
8.根据权利要求1所述的测试元件组,其特征在于,所述测试治具具有一第一端和一第二端,所述测试机台设置于所述第一端上,多组所述探针组均匀间隔设置于所述第二端上。
9.根据权利要求8所述的测试元件组,其特征在于,所述测试治具的所述第二端延伸于所述阵列基板的多个测试端子形成的一侧通道内。
10.根据权利要求9所述的测试元件组,其特征在于,所述静电消除装置与所述测试治具的所述第二端进行可拆卸连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011079419.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。