[发明专利]一种基于人工智能的光学探测系统及装置在审
申请号: | 202011088696.X | 申请日: | 2020-10-13 |
公开(公告)号: | CN112444493A | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 曹文荟 | 申请(专利权)人: | 中科巨匠人工智能技术(广州)有限公司 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/3581;H04L29/08;H04W4/30 |
代理公司: | 杭州创智卓英知识产权代理事务所(普通合伙) 33324 | 代理人: | 张迪 |
地址: | 510075 广东省广州市越秀*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 人工智能 光学 探测 系统 装置 | ||
1.一种基于人工智能的光学探测系统,其特征在于,包括:
光学探测装置(1),用于拍摄物质光谱图像;
终端控制设备(2),与所述光学探测装置(1)通讯连接,用于控制所述光学探测装置(1)的工作模式及获取所述光学探测装置(1)拍摄的所述物质光谱图像;
人工智能云处理平台(3),与所述终端控制设备(2)通讯连接,用于获取所述终端控制设备(2)传输的所述物质光谱图像,并采用预设的模型对所述物质光谱图像进行处理,获取检测报告,并将所述检测报告发送至所述终端控制设备(2);所述终端控制设备(2)显示所述检测报告。
2.如权利要求1所述的基于人工智能的光学探测系统,其特征在于,所述光学探测装置(1)包括:高光谱相机和/或太赫兹光谱仪。
3.如权利要求1所述的基于人工智能的光学探测系统,其特征在于,所述终端控制设备(2)包括:手机、平板和电脑其中一种或多种结合。
4.如权利要求1所述的基于人工智能的光学探测系统,其特征在于,所述预设的模型包括:三维卷积模型、双支卷积模型、小样本卷积模型中一种或多种结合。
5.如权利要求1所述的基于人工智能的光学探测系统,其特征在于,所述人工智能云处理平台(3)执行如下操作:
在采用预设的模型对所述物质光谱图像进行处理之前,接收所述终端控制设备(2)发送的模型调用信息,基于所述模型调用信息从预设的模型调用库中获取所述预设的模型;
其中,所述模型调用库包括:许可调用向量、与所述许可调用向量一一对应的模型编号、与所述模型编号一一对应的预设的模型;其中许可调用向量如下:
Xi=(xi1,xi2,…,xim);
其中,Xi是第i个所述模型编号对应的所述许可调用向量;aim为第i个所述许可调用向量中第m个调用参数的值;
所述基于所述模型调用信息从预设的模型调用库中获取所述预设的模型,包括:
基于预设的解析模板解析所述模型调用信息,获取模型调用向量;所述模型调用向量如下:
Y=(y1,y2,…,ym);
其中,Y表示所述模型调用向量;ym表示所述模型调用向量中第m个调用参数的值;在解析过成中,当未从所述模型调用信息中解析到所述解析模板的所述调用参数的值时,采用预设的填充值对所述调用参数的值进行填充;
计算所述模型调用向量与每个所述许可调用向量之间的第一相似度,计算公式如下:
其中,Sim(Y,Xp)表示所述模型调用向量Y与第p个所述许可调用向量之间的第一相似度;yq表示所述模型调用向量中第q个调用参数的值;xpq表示第p个所述许可调用向量的第q个调用参数的值;
当所有的所述第一相似度的值中最大值大于等于预设的第一阈值且小于第二预设阈值时,获取所述第一相似度的最大值的所述许可调用向量对应的所述模型编号,基于所述模型编号调用与所述模型编号一一对应的预设的模型;当所有的所述第一相似度的值中最大值大于等于第二预设阈值时,提取所有的所述第一相似度大于第二预设阈值的所述许可调用向量所对对应的所述模型编号,获取所述模型编号对应的预设的模型描述信息,将所述模型描述信息与所述模型编号制成待选取列表,将所述待选取列表发送至所述终端控制设备(2),接收所述终端控制设备(2)对于所述待选取列表的选择操作,解析所述选择操作,获取用户选择调用的所述模型编号,基于所述模型编号调用与所述模型编号一一对应的预设的模型;其中,所述选择操作包括多选;所述第一阈值小于所述第二预设阈值;
当所有的所述第一相似度的值中的最大值小于与预设的第一阈值时,和/或,在解析过程中中采用填充手段填充的所述调用参数的值的个数大于预设个数时,获取所述终端控制设备(2)的历史调用记录,基于所述历史调用记录建立临时调用库,计算所述模型调用向量与所述临时调用库内的所述许可调用向量的第二相似度,计算公式如下:
其中,Sim(Y,Lj)为所述模型调用向量Y与所述临时调用库内第j个所述许可调用向量之间的第二相似度;xjq表示所述临时调用库内第j个所述许可调用向量的第q个所述调用参数的值;
调用所述第二相似度的最大值对应的所述模型;
所述调用参数包括:所述光学探测装置(1)的电压、电流、拍摄所述物质光谱图像的光谱波长、光强、镜头焦距、镜头景深。
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