[发明专利]一种非晶带材的检测装置及方法在审
申请号: | 202011097654.2 | 申请日: | 2020-10-14 |
公开(公告)号: | CN114371433A | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 夏满龙;董强 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 非晶带材 检测 装置 方法 | ||
本发明涉及一种非晶带材的检测装置及方法,所述检测装置具备:磁轭,其具有与所述非晶带材接触的接触部;磁化部,其缠绕在所述磁轭上,对所述非晶带材施加磁场;以及检测部,其被设置于靠近所述非晶带材的表面的位置,并检测所述磁场中的所述非晶带材的磁场强度。根据本发明,由于在磁轭上卷绕磁化部,并通过磁轭上的接触部与非晶带材接触而对非晶带材施加磁场,因此,不需要制备检测用的非晶带材,能够节省检测用的时间以及成本,还能够在实际生产中实现全面检测非晶带材的质量,能够用于非晶带材磁性能的在线快速检测。
技术领域
本发明涉及一种对非晶带材的磁性能进行检测的非晶带材的检测装置及方法。
背景技术
磁性能是非晶产品的核心指标,如何准确评价非晶产品的磁性能成为了电工行业的重要课题。快速检测非晶带材磁性能有助于非晶带材生产厂家及变压器厂家判定非晶带材质量和生产。然而,在现有的方法(单片法或环样法)中,在测定非晶带材的磁性能时,磁化线圈、感应线圈以及H线圈都缠绕在加工后非晶带材的环样或者单片样品上。这样的方法由于需要加工用于测试的非晶带材的样品因而耗费制样的时间和成本,同时也无法在实际生产中全面检测非晶带材的质量,不能够用于非晶带材磁性能在线快速检测。
发明内容
发明要解决的问题
对此,本发明的目的在于提供一种能够快速在线检测非晶带材的磁性能的检测装置及方法。
解决问题的技术手段
为了实现上述目的,本发明的一个实施方式为一种非晶带材的检测装置,其具备磁轭,其具有与所述非晶带材接触的接触部;磁化部,其缠绕在所述磁轭上,对所述非晶带材施加磁场;以及检测部,其被设置于靠近所述非晶带材的表面的位置,并检测所述磁场中的所述非晶带材的磁场强度。
另外,本发明的另一个实施方式为一种非晶带材的检测方法,其包括以下步骤:将磁化部卷绕在磁轭上,并经由支承部将检测部固定在所述磁轭上,使所述检测部位于所述非晶带材的靠近所述磁轭一侧的表面;以及,使所述磁轭的接触部与所述非晶带材接触,通过所述磁化部对非晶带材施加磁场,并通过所述检测部检测所述磁场中的所述非晶带材的磁场强度,从而获得所述非晶带材的磁性能。
发明的效果
根据本发明,由于在磁轭上卷绕磁化部,并通过磁轭上的接触部与非晶带材接触而对非晶带材施加磁场,因此,不需要制备检测用的非晶带材,能够节省检测用的时间以及成本,还能够在实际生产中实现全面检测非晶带材的质量,能够用于非晶带材磁性能的在线快速检测。
附图说明
图1为本发明的非晶带材的检测装置的构成的示意图。
图2为根据本发明获得到的非晶带材的磁场强度H与磁感应强度B的关系的示意图。
图3为根据本发明获得到的非晶带材的损耗Ps与磁场强度H的关系的示意图。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。虽然本发明的描述将结合较佳实施例一起介绍,但这并不代表本发明的特征仅限于该实施方式。恰恰相反,结合实施方式作本发明介绍的目的是为了覆盖基于本发明的权利要求而有可能延伸出的其它选择或改造。为了提供对本发明的深度了解,以下描述中将包含许多具体的细节。本发明也可以不使用这些细节实施。此外,为了避免混乱或模糊本发明的重点,有些具体细节将在描述中被省略。需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
图1为本发明的非晶带材的检测装置的构成的示意图。
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