[发明专利]存储器测试方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：

获取待测试存储器的中央处理器可访问空间；

获取所述待测试存储器的图形处理器可访问空间；

驱动所述中央处理器基于所述中央处理器可访问空间运行测试程序，以通过待测试存储器总线访问所述待测试存储器，其中，所述中央处理器运行所述测试程序时控制所述图形处理器基于所述图形处理器可访问空间通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述中央处理器运行所述测试程序时控制所述图形处理器基于所述图形处理器可访问空间通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器包括：

所述中央处理器与所述图形处理器串行通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测试存储器总线为包括预定传输通道的高级可扩展接口协议总线；

所述中央处理器与所述图形处理器串行通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器包括：

所述中央处理器与所述图形处理器根据所述测试程序串行通过所述预定传输通道访问所述待测试存储器。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述中央处理器运行所述测试程序时控制所述图形处理器基于所述图形处理器可访问空间通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器包括：

所述中央处理器基于开放式编程语言控制所述图形处理器根据所述测试程序以预定访问方式访问所述待测试存储器。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述中央处理器运行所述测试程序时控制所述图形处理器基于所述图形处理器可访问空间通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器包括：

所述中央处理器通过开放式图形程序接口控制所述图形处理器根据所述测试程序以预定访问方式访问所述待测试存储器。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的方法，其特征在于，所述待测试存储器为低功耗内部存储器；

所述通过待测试存储器总线访问所述待测试存储器包括：

所述中央处理器通过所述待测试存储器总线经由内存控制器访问所述低功耗内部存储器；

所述中央处理器运行所述测试程序时控制所述图形处理器基于所述图形处理器可访问空间通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器包括：

所述图形处理器通过所述待测试存储器总线经由所述内存控制器访问所述低功耗内部存储器。

7.一种存储器测试系统，其特征在于，包括中央处理器和图形处理器，其中：

所述中央处理器，用于基于分配的中央处理器可访问容量运行测试程序以访问待测试存储器，其中，所述中央处理器运行所述测试程序时控制所述图形处理器基于分配的图形处理器可访问容量访问所述待测试存储器；

所述图形处理器，用于基于所述图形处理器可访问容量访问所述待测试存储器。

8.一种存储器测试装置，其特征在于，包括：

测试准备模块，用于获取待测试存储器的中央处理器可访问空间；获取所述待测试存储器的图形处理器可访问空间；

测试运行模块，用于驱动所述中央处理器基于所述中央处理器可访问空间运行测试程序，以通过待测试存储器总线访问所述待测试存储器，其中，所述中央处理器运行所述测试程序时控制所述图形处理器基于所述图形处理器可访问空间通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器。

9.一种设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器中并可在所述处理器中运行的可执行指令，其特征在于，所述处理器执行所述可执行指令时实现如权利要求1-6任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行指令，其特征在于，所述可执行指令被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的方法。