[发明专利]多芯片调试方法及多芯片调试装置

说明书

本发明提供了一种多芯片调试方法及多芯片调试装置，属于通信技术领域，具体包括控制器，用于通过芯片连接接口与外部上位机进行通信，并基于从芯片连接接口接收的信号生成包含待调试芯片地址以及调试指令的调试信号；级联控制模块，用于接收控制器输出的调试信号，并采用buffer驱动器对调试信号进行调整，将调整后的调试信号携带的芯片连接接口信号转换成能够对待调试芯片的从接口进行访问的总线从接口信号；以及总线，与所有待调试芯片连接，用于获取级联控制模块输出的被转换为总线从接口信号的调试信号，并基于调试信号将调试指令传输给待调试芯片地址所指示的待调试芯片。通过本公开的处理方案，接线简单、易于维护且适用于多芯片调试。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，具体涉及一种多芯片调试方法及多芯片调试装置。

背景技术

芯片在线调试是芯片设计、程序开发必不可少的接口。一般通过JTAG接口对芯片内部实时抓取的数据进行读取。多芯片调试时，需要多个JTAG接口或用一个调试接口对芯片进行级联。但是直接使用JTAG接口进行芯片调试，调试速度慢，数据量小，芯片级联数目有限，不适用于大量芯片级联；而且当使用多个JTAG连接器对多芯片调试时存在接线复杂问题，不便于维护。

发明内容

因此，为了克服上述现有技术的缺点，本发明提供了一种接线简单、易于维护且适用于多芯片调试的多芯片调试方法及多芯片调试装置。

为了实现上述目的，本发明提供一种多芯片调试装置，包括：控制器，用于通过芯片连接接口与外部上位机进行通信，并基于从所述芯片连接接口接收的信号生成包含待调试芯片地址以及调试指令的调试信号；级联控制模块，用于接收所述控制器输出的所述调试信号，并采用buffer驱动器对所述调试信号进行调整，将调整后的所述调试信号携带的所述芯片连接接口信号转换成能够对待调试芯片的从接口进行访问的总线从接口信号；以及总线，与所有待调试芯片连接，用于获取所述级联控制模块输出的被转换为所述总线从接口信号的所述调试信号，并基于所述调试信号将所述调试指令传输给所述待调试芯片地址所指示的所述待调试芯片。

在一个实施例中，所述控制器包括：逻辑单元，与所述芯片连接接口连接，用于接收所述上位机发送的调试指令，并根据所述调试指令发送对应的调试信号；以及多任务单元，具有输入接口、输出接口和buffer驱动器，所述buffer 驱动器与所述输入接口、所述输出接口分别连接，对所述调试信号进行增强；所述输入接口与所述逻辑单元连接，所述输出接口连接至对应的级联控制模块接口，所述多任务单元根据所述调试信号与对应的所述待调试芯片建立传递通道，以供所述调试信号对该些芯片进行调试。

在一个实施例中，所述总线包含一组与所述级联控制模块连接的低速配置总线以及多组与所述待调试芯片连接的高速差分总线。

在一个实施例中，所述总线是HDMI线或MiniSAS线。

在一个实施例中，所述芯片连接接口是UART接口、SPI接口、JTAG接口、USB接口、EARTHNET接口中的任意一种。

在一个实施例中，所述级联控制模块包括控制信号转换单元、数据信号转换单元、主接口和从接口，所述控制信号转换单元，用于将所述主接口中传输的调试信号中的控制信号转换为从接口控制信号；所述数据信号转换单元，用于将所述主接口中传输的调试信号中的数据信号转换为从接口数据信号；所述主接口，分别与所述控制信号转换单元和所述数据信号转换单元电连接，用于将所述调试信号传输至所述控制信号转换单元和所述数据信号转换单元；所述从接口，分别与所述控制信号转换单元、所述数据信号转换单元和所述第二总线电连接，用于将所述从接口控制信号或所述从接口数据信号传输至所述第二总线。