[发明专利]高精度温度传感器测试整流箱在审
申请号: | 202011123518.6 | 申请日: | 2020-10-20 |
公开(公告)号: | CN112113687A | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 赵正超;李文昌;洪婷;管娟娟 | 申请(专利权)人: | 山东华科半导体研究院有限公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 250000 山东省济南市高新区飞*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高精度 温度传感器 测试 整流 | ||
【权利要求书】:
1.高精度温度传感器测试整流箱,其特征在于,包括隔热箱体,隔热箱体设置贯穿箱壁的、可关闭的通风窗,通风窗通过可控隔离结构实现箱体内腔与箱体外部的开放和隔离,可控隔离结构的控制单元设置有通信接口。
2.如权利要求1所述的高精度温度传感器测试整流箱,其特征在于,所述可控隔离结构为百叶窗式隔离结构,所述通信接口为百叶窗式隔离结构驱动电机的遥控开关接收器。
3.如权利要求1所述的高精度温度传感器测试整流箱,其特征在于,所述隔热箱体由箱体和设置于箱体内壁的隔热棉构成。
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