[发明专利]转移膜、转移组件和微器件曲面转移方法有效
申请号: | 202011123961.3 | 申请日: | 2020-10-20 |
公开(公告)号: | CN112234019B | 公开(公告)日: | 2023-01-17 |
发明(设计)人: | 郭婵;龚政;潘章旭;刘久澄;胡诗犇;王建太;庞超;龚岩芬;陈志涛 | 申请(专利权)人: | 广东省科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 张洋 |
地址: | 510650 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转移 组件 器件 曲面 方法 | ||
本发明的实施例提供了一种转移膜、转移组件和微器件曲面转移方法,涉及微器件转移领域。该转移膜包括基底层、吸水层和拾取层,吸水层的一侧与基底层连接,另一侧和拾取层连接,基底层用于在吸水层吸水后与吸水层分离;拾取层用于拾取微器件,并用于将微器件转移至待转移基底上。该转移膜能完成微器件的转移,既适用于微器件从平面基底到平面基底的转移,也适用于平面基底到曲面基底的转移,转移方法简单,效率高。
技术领域
本发明涉及微器件转移技术领域,具体而言,涉及一种转移膜、转移组件和微器件曲面转移方法。
背景技术
电子设备通常是按照平面布局制造的,但许多新兴应用中,比如从光电子到可穿戴设备,都需要三维曲面结构。由于缺乏有效的制造技术,在曲面上制造电子器件非常具有挑战性。
现有技术中,利用软性转印头的形变特性,可初步实现从平面到曲面的微器件转印,但转印过程取决于转印头自身的形变,可控性不高,容易造成转印过程中器件因应力的损伤。因此,有必要研发一种针对曲面结构的微器件转移技术,将微器件转印到曲面上。
发明内容
本发明的目的包括,例如,提供了一种转移膜、转移组件和微器件曲面转移方法,其能够实现微器件从平面基底转移至平面基底,也可以实现微器件从平面基底转移至曲面基底,转移效率高,可操作性强。
本发明的实施例可以这样实现:
第一方面,本发明实施例提供一种转移膜,包括基底层、吸水层和拾取层,所述吸水层的一侧与所述基底层连接,另一侧和所述拾取层连接,所述基底层用于在所述吸水层吸水后与所述吸水层分离;所述拾取层用于拾取微器件,并用于将所述微器件转移至待转移基底上。
在可选的实施方式中,所述基底层包括第一基底和设于所述第一基底上的第一黏附层,所述第一黏附层与所述吸水层连接,所述第一黏附层用于在所述吸水层吸水后与所述吸水层分离。
在可选的实施方式中,所述第一黏附层靠近所述吸水层的一侧设有分离孔。
在可选的实施方式中,所述拾取层远离所述吸水层的一侧设有保护层。
在可选的实施方式中,所述拾取层采用第二黏附层,所述第二黏附层以粘接方式拾取所述微器件。
第二方面,本发明实施例提供一种转移组件,包括待转移基底和前述实施方式中任一项所述的转移膜,所述转移膜包括基底层、吸水层和拾取层,所述吸水层的一侧与所述基底层连接,另一侧和所述拾取层连接,所述基底层用于在所述吸水层吸水后与所述吸水层分离;所述拾取层用于拾取微器件,并用于将所述微器件转移至待转移基底上;
所述待转移基底设于所述拾取层远离所述吸水层的一侧,所述待转移基底用于承接所述拾取层上的所述微器件。
在可选的实施方式中,所述待转移基底包括曲面衬底和第三黏附层,所述第三黏附层设于所述曲面衬底上,所述第三黏附层用于承接所述拾取层上的所述微器件。
第三方面,本发明实施例提供一种微器件曲面转移方法,转移膜包括依次设置的基底层、吸水层和拾取层;所述微器件曲面转移方法包括:
所述拾取层拾取微器件;
所述转移膜和所述微器件共同浸入水中;所述吸水层吸水,以使所述吸水层和所述基底层分离;
取出所述基底层,以使所述吸水层、所述拾取层和所述拾取层上的微器件浮在水面;
将曲面基底浸于水中,且设于所述微器件远离拾取层的一侧,以使所述微器件附着于所述曲面基底上;
将所述曲面基底、所述微器件、所述拾取层和所述吸水层共同移出水面;
去除所述拾取层和所述吸水层。
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