[发明专利]一种显示面板仿真测试方法

权利要求书

1.一种显示面板仿真测试方法，其特征在于，包括：

S1、提供实测显示面板，并在在第一模式下，获取第一测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V0；

S2、在第二模式下，获取所述第一测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V1；

S3、确定实测电容耦合致电压偏移Vfd＝V0-V1；

S4、在第一模式或第二模式下，获取第二测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V2，以及第三测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V3；

S5、确定第三测试画面对应的灰阶下，实测挠曲电致电压偏移Vfe＝V3-V2；

其中，第三测试画面的灰阶大于第二测试画面的灰阶，所述第一模式为逐行扫描模式，所述第二模式为各行像素同时显示模式。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一测试画面包括列反转画面、行反转画面、点反转画面或帧反转画面。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二测试画面对应的灰阶小于等于64灰阶。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第三测试画面对应的灰阶大于64灰阶。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

S6、提供多组显示面板设计模型，并模拟获得各组显示面板设计模型的正负帧透过率差异模拟值ΔT；其中，不同组所述显示面板设计模型的液晶挠曲电参数不同；所述显示面板设计模型中除所述液晶挠曲电参数外的其他参数与实测显示面板相同；

S7、根据所述正负帧透过率差异模拟值ΔT，计算模拟挠曲电致电压偏移Vfe’；

S8、将与所述实测挠曲电致电压偏移Vfe差值最小的所述模拟挠曲电致电压偏移Vfe’对应的液晶挠曲电参数确定为理想液晶挠曲电参数。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述正负帧透过率差异模拟值ΔT，计算模拟挠曲电致电压偏移Vfe’包括：

根据液晶施加电压与透过率对应关系，获取所述正负帧透过率差异模拟值ΔT对应的正负帧公共电压值偏移值ΔU；

将所述正负帧公共电压值偏移值ΔU确定为模拟挠曲电致电压偏移Vfe’。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在将与所述实测挠曲电致电压偏移Vfe相等的所述模拟挠曲电致电压偏移Vfe’对应的液晶挠曲电参数确定为理想液晶挠曲电参数之后，还包括：

S9、根据所述理想液晶挠曲电参数，进行显示面板的设计参数优化模拟。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述理想液晶挠曲电参数，进行显示面板的设计参数优化模拟，包括：

根据所述理想液晶挠曲电参数，对显示面板的至少一种设计参数进行正负帧透过率差异模拟；

将正负帧透过率差异值最小时对应的显示面板的设计参数的值作为理想显示面板的设计参数值。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述显示面板的设计参数包括像素电极的条形电极数量、条形电极形状、条形电极尺寸以及相邻条形电极的距离中的至少一种。

10.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述液晶挠曲电参数包括弯曲挠曲电参数Eb和展曲挠曲电参数Es。

11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，控制所述实测显示面板的低电压信号线的电压范围为-7V至-10V。