[发明专利]一种显示面板仿真测试方法

说明书

本发明公开了一种显示面板仿真测试方法。包括提供实测显示面板，并在在第一模式下，获取第一测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V0；在第二模式下，获取所述第一测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V1；确定实测电容耦合致电压偏移Vfd＝V0‑V1；在第一模式或第二模式下，获取第二测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V2，以及第三测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V3；确定第三测试画面对应的灰阶下，实测挠曲电致电压偏移Vfe＝V3‑V2；本发明可以实现公共电极的公共电压影响因素的单因子量化。

技术领域

本发明涉及显示面板领域，尤其涉及一种显示面板仿真测试方法。

背景技术

液晶挠曲电效应(Flexoelectric Effect)指的是电场作用下液晶发生畸变而产生诱导电偶极矩的类压电现象。

液晶显示面板在工作时，为防止液晶老化，一般会设置像素电极极性以公共电极施加的公共电压Vcom为中心进行周期性变化，即设置正负帧驱动模式。而液晶挠曲电效应会对公共电极的公共电压Vcom影响较大，使液晶显示面板在正帧下的透过率与负帧下的透过率具有差异，进而出现闪烁的现象。

液晶的挠曲电系数至今没有公认准确的测试方法，不同灰阶下各因子影响会发生变化，因此现有技术很难准确模拟和量化挠曲电效应和耦合电容等对像素公共电压的影响。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板仿真测试方法，以实现公共电极的公共电压影响因素的单因子量化。

本发明实施例提供了一种显示面板仿真测试方法，包括：

S1、提供实测显示面板，并在在第一模式下，获取第一测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V0；

S2、在第二模式下，获取所述第一测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V1；

S3、确定实测电容耦合致电压偏移Vfd＝V0-V1；

S4、在第一模式或第二模式下，获取第二测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V2，以及第三测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V3；

S5、确定第三测试画面对应的灰阶下，实测挠曲电致电压偏移Vfe＝V3-V2；

其中，第三测试画面的灰阶大于第二测试画面的灰阶，所述第一模式为逐行扫描模式，所述第二模式为各行像素同时显示模式。

本发明实施例提供的显示面板仿真测试方法，通过在逐行扫描模式下，获取第一测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V0；在各行像素同时显示模式下，获取第一测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V1；由于各行像素同时显示模式下，可以忽略电容耦合对第一测试画面的正负帧透过率的影响，因此可以确定实测电容耦合致电压偏移为Vfd＝V0-V1。通过逐行扫描模式或各行像素同时显示模式下，获取第二测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V2，以及第三测试画面正负帧透过率差异最小时的公共电压值V3；由于第三测试画面的灰阶大于第二测试画面的灰阶，第二测试画面的灰阶较低，可以忽略液晶挠曲电效应对第二测试画面的正负帧透过率的影响，因此可以确定实测挠曲电致电压偏移Vfe＝V3-V2；所以本发明实施例提供的方法将对公共电极的公共电压产生影响的各因素进行了单因子量化，可以实现将实测电容耦合致电压偏移Vfd和实测挠曲电致电压偏移分开量化测量Vfe。

附图说明

图1为理想情况下，正帧和负帧显示面板的像素电压和公共电压变化示意图；

图2为实际情况下，正帧和负帧显示面板的像素电压和公共电压变化示意图；

图3是本发明实施例提供的一种显示面板仿真测试方法的流程示意图；