[发明专利]一种系统缺陷检测方法、设备、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种系统缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

经数据通路发起对测试指令的响应测试，其中测试指令实际的响应与数据通路对测试指令的处理关联,其中经数据通路发起对测试指令的响应测试包括：解析出所述测试指令的操作对象；

获取测试指令的正确的操作结果信息作为测试指令的预期响应结果；

获取测试指令的实际的响应测试结果，包括在测试指令响应测试完成后，按照测试指令的正确的操作对象信息，不经数据通路从对应的操作对象获取操作结果；

比较测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果，得到系统缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，经数据通路发起对测试指令的响应测试，包括：

第一装置发出测试指令，经数据通路解析出测试指令的操作对象和操作动作后，指示解析出的该操作对象执行所述操作动作。

3.根据权利要求2所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，所述方法还包括：第一装置生成测试指令的正确的操作对象信息和操作结果信息，将生成的所述正确的操作对象信息和操作结果信息发送至第二装置；

获取测试指令的正确的操作结果信息作为测试指令的预期响应结果，包括：

第二装置将第一装置发送的正确的操作结果信息作为预期响应结果；

按照测试指令的正确的操作对象信息，不经数据通路从对应的操作对象获取操作结果，包括：第二装置按照第一装置发送的正确的操作对象信息，不经数据通路从对应的操作对象获取操作结果，作为实际的响应测试结果。

4.根据权利要求3所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，在确定测试指令实际的响应完成后，第一装置将生成的信息经数据通路发送至第二装置。

5.根据权利要求3所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，第一装置包括CPU；第二装置包括自定义检测模块和自定义存储模块；

第一装置生成测试指令的操作对象信息和操作结果信息，将生成的信息经数据通路发送至第二装置，包括：CPU按照预设的数据格式生成携带有测试指令的操作对象信息和操作结果信息的数据，将该数据经数据通路写入至自定义存储模块；

获取测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果，包括：

自定义检测模块读取自定义存储模块的存储内容；

自定义检测模块将自定义存储模块存储的CPU发送的操作结果信息作为预期响应结果；

自定义检测模块按照自定义存储模块存储的CPU发送的操作对象信息从对应的操作对象获取操作结果，作为实际的响应测试结果。

6.根据权利要求5所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，自定义检测模块读取自定义存储模块，包括：

自定义检测模块监测到有新的来自CPU的信息写入自定义存储模块后，读取自定义存储模块新写入的存储内容。

7.根据权利要求5所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，预设的数据格式为CPU处理器位数的宽度。

8.根据权利要求5所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，测试指令的操作对象包括内存或寄存器，操作动作包括读数据或写数据。

9.根据权利要求8所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，预设的数据格式，包括：

读或写的数据长度和数据类型标志信息；

内存或寄存器的地址类型标志信息；

保留字段；

内存或寄存器的地址，以及，读或写的数据。

10.根据权利要求5所述的系统缺陷检测方法，其特征在于，比较测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果，得到系统缺陷检测结果，包括：

自定义检测模块比较测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果，得到系统缺陷检测结果。