[发明专利]一种系统缺陷检测方法、设备、电子设备和存储介质

说明书

本发明的实施例公开一种系统缺陷检测方法、设备、电子设备和存储介质，涉及系统验证技术领域，能够提高验证的准确性。所述方法包括：经数据通路发起对测试指令的响应测试，其中测试指令实际的响应与数据通路对测试指令的处理关联；获取测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果；比较测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果，得到系统缺陷检测结果。本发明适用于验证系统中缺陷的检测。

技术领域

本发明涉及系统验证技术，尤其涉及一种系统缺陷检测方法、设备、电子设备和存储介质。

背景技术

随着集成电路的发展以及先进制程的创新，芯片的设计越来越复杂，集成度也越来越高，这对于SOC(System-on-Chip，片上系统)的验证形成了巨大的挑战。而在SOC芯片中，CPU是整个逻辑运算和控制的核心，它的正确与否关系整颗芯片能否正常工作。在当前的服务器芯片设计上，南桥芯片组、北桥芯片组已经和CPU集成在一起形成了单颗SOC芯片。SOC包含了CPU、控制总线、数据总线、DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器)控制器、南桥、北桥以及外围输入输出接口。为保证芯片的正常运作，需要验证SOC中CPU对其他模块的数据访问和控制访问的正确性。

在现有技术中，通常涉及CPU对其他模块的寄存器访问和DRAM数据访问，如图1所示为一个4核CPU对DRAM的数据访问。为测试数据访问的正确性，通常做法是CPU对同一地址做读写操作，先写再读，通过比较写数据与读回数据是否一致来判断测试是否成功。具体过程如下：

首先，CPU发出一条内存写指令，操作地址为A0，该指令经过CPU处理之后转换为SDP包发送到数据总线上，在数据总线先对操作地址译码，发现目的地是DRAM，然后再经过一系列路由、仲裁等，SDP包到达DRAM控制器，在DRAM控制器对SDP包解析，发现是写操作，判断SDP包传输无误后，将操作地址和数据提取出来；因为DRAM控制器外部挂载多个内存Memory块，所以需要对操作地址做进一步译码，找到地址A0对应的Memory块地址、通道地址等，最终数据被写入DRAM3的地址A0；

写操作完成之后，CPU发起一条内存读指令，操作地址为A0，该指令经过CPU处理转换为SDP包之后进入到数据总线，同样经过译码、路由、仲裁等之后到达DRAM控制器；DRAM控制器对SDP包解析，发现是读操作，判断SDP包传输无误后，提取操作地址，对操作地址做进一步译码，找到A0对应的Memory块地址、通道地址等；DRAM控制器读取到外部A0地址存储的数据之后组合成SDP应答包，再发送到数据总线，经过路由、仲裁之后回到CPU；

CPU得到读回的数据之后，将该读回数据和之前的写数据比较是否一致，一致则判断为正确，不一致则判断为错误。

本领域技术人员在研究过程中发现现有的测试方案存在测试风险，会漏掉严重的设计缺陷bug。具体的，如图1所示，当CPU想访问地址A0，但是系统存在设计错误，会将地址A0错误译码为A1，所以：对于写命令，经过路由后最终将数据写到了地址A1；同样的，对于读命令，从CPU发出的操作地址是A0，经过数据总线之后，错误的将操作地址译码为A1，最终读回了外挂DRAM里面地址A1所存储的内容。CPU判断读写数据正确，但是会漏掉设计bug。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种系统缺陷检测方法、设备、电子设备和存储介质，以解决现有技术中系统缺陷检测不准确的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种系统缺陷检测方法，包括：

经数据通路发起对测试指令的响应测试，其中测试指令实际的响应与数据通路对测试指令的处理关联；

获取测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果；

比较测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果，得到系统缺陷检测结果。