[发明专利]大米加工精度的检测方法、设备以及存储介质

权利要求书

1.一种大米加工精度的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

采集米粒在至少三个角度的图像，并将所述至少三个角度的图像记为第一图像；

对所述第一图像进行预处理，得到第二图像；

根据所述第一图像和所述第二图像确定所述米粒是否为留胚留皮米；

如果所述米粒为留胚留皮米，则计算所述米粒的留胚参数和留皮参数；

根据所述留胚参数和所述留皮参数计算所述米粒的加工精度。

2.如权利要求1所述的大米加工精度的检测方法，其特征在于，所述第一图像为RGB图像，所述对所述第一图像进行预处理，包括：

对所述第一图像进行二值化处理，得到所述第二图像，其中，所述第二图像中像素点的灰度值为第一灰度值或者第二灰度值。

3.如权利要求2所述的大米加工精度的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一图像和所述第二图像确定所述米粒是否为留胚留皮米，包括：

获取所述第一图像中各像素点的蓝色值B和红色值R；

将满足式100*(R-B)/R＞nRB的像素点(i,j)的灰度值设置为所述第一灰度值，得到第三图像，其中，nRB为第一预设阈值；

以所述第三图像中灰度值为所述第一灰度值的各像素点为中心进行预设区域划分；

统计各预设区域中灰度值为所述第一灰度值的像素点的第一数量，并在所述第一数量小于第一预设数量时，将对应预设区域的中心点像素的灰度值设置为所述第二灰度值，得到第四图像；

获取所述第四图像中灰度值为第一灰度值的连通域中面积最大的连通区域；

根据所述面积最大的连通区域和所述第二图像确定所述米粒为留胚米。

4.如权利要求3所述的大米加工精度的检测方法，其特征在于，所述根据所述面积最大的连通区域和所述第二图像确定所述米粒为留胚米，包括：

根据下式计算所述面积最大的连通区域的紧致度：

fcompactness＝nEdgeArea*nEdgeArea/nMaxArea，

其中，fcompactness为所述紧致度，nEdgeArea为所述面积最大的连通区域的轮廓周长，nMaxArea为所述面积最大的连通区域的面积；

如果所述紧致度大于第二预设阈值，则获取所述面积最大的连通区域的质心的第一位置，并根据所述第二图像获取所述面积最大的连通区域所在米粒的质心的第二位置；

计算所述第一位置与所述第二位置之间的距离；

如果所述距离大于或者等于第三预设阈值，则确定所述米粒为留胚米。

5.如权利要求3或4所述的大米加工精度的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一图像和所述第二图像确定所述米粒是否为留胚留皮米，包括：

获取所述第一图像中各像素点的蓝色值B；

根据下式计算像素点(i,j)在其周围多个方向上的梯度值：

nT1(k)＝smooth(i'(k),j'(k))-smooth(i,j)，

其中，4≤k≤K，k、K均为整数，K表示方向的个数，像素点(i,j)在所述第二图像中的灰度值为所述第一灰度值，在所述第一图像中的蓝色值小于或等于第四预设阈值，nT1(k)为所述第一图像中像素点(i,j)在第k个方向上的梯度值，smooth(i,j)为所述第一图像中像素点(i,j)的蓝色值，smooth(i’(k),j’(k))为所述第一图像中像素点(i’(k),j’(k))的蓝色值,像素点(i’(k),j’(k))与像素点(i,j)之间的距离为预设步长；

在K个梯度值均大于第五预设阈值时，保留所述第二图像中像素点(i,j)的灰度值为所述第一灰度值，否则将所述第二图像中像素点(i,j)的灰度值设置为所述第二灰度值，得到第五图像；

根据所述第五图像确定所述米粒是否为留胚留皮米。