[发明专利]基于射频门的读写器天线调试方法及读写器天线调试装置

权利要求书

1.一种基于射频门的读写器天线调试方法，所述读写器天线设置于所述射频门内部，所述射频门内部还设置有多个电子标签，所述读写器天线连接至预先设置的读写器；其特征在于，所述方法包括：

所述读写器在预设功率范围内以预设功率步长读取所述多个电子标签，获得每个功率点下所读到的电子标签的标识；其中，所述读写器在所述预设功率范围的最小值下读取不到任何电子标签，且所述读写器的预设实际工作功率位于所述预设功率范围内；

根据所述每个功率点下所读到的电子标签的标识，获得所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值；

根据所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值对所述读写器天线进行调试；

所述根据所述每个功率点下所读到的电子标签的标识，获得所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值，包括：

根据所述每个功率点下所读到的电子标签的标识，获得所述多个电子标签中每个电子标签所对应的最小读取功率值；

根据所述读写器的预设实际工作功率、所述多个电子标签中每个电子标签所对应的最小读取功率值和预先测试的所述多个电子标签中每个电子标签的标签灵敏度，计算所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值；

采用如下公式计算所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值：

E＝P1-P2+P3

其中，E为该电子标签所在位置的射频能量值，P1为所述读写器的预设实际工作功率，P2为该电子标签所对应的最小读取功率值，P3为预先测试的该电子标签的标签灵敏度；

所述根据所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值对所述读写器天线进行调试，包括：

根据所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值构建射频能量场分布图；

根据所述射频能量场分布图对所述读写器天线进行调试；

所述根据所述射频能量场分布图对所述读写器天线进行调试，包括：

根据所述射频能量场分布图对所述读写器天线的数量、位置和朝向进行调整。

2.根据权利要求1所述的基于射频门的读写器天线调试方法，其特征在于，所述根据所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值构建射频能量场分布图，包括：

以所述多个电子标签中每个电子标签之间的相对所在位置作为节点，构建3D模型；

在每个所述节点处标注与该节点对应的电子标签的标识，并标注与该电子标签对应的射频能量值；

根据每个所述节点处标注的射频能量值更新每个所述节点的大小，获得所述射频能量场分布图。

3.根据权利要求1所述的基于射频门的读写器天线调试方法，其特征在于，所述多个电子标签中每个电子标签具有相同的标签灵敏度；所述多个电子标签中每个电子标签均设置于与该电子标签对应的标定物上，所述标定物按照矩形阵列的排列方式设置于所述射频门内部。

4.根据权利要求1所述的基于射频门的读写器天线调试方法，其特征在于，所述预设功率范围的最大值为所述读写器的最大工作功率。