[发明专利]基于射频门的读写器天线调试方法及读写器天线调试装置

说明书

本发明涉及射频测试技术领域，提供一种基于射频门的读写器天线调试方法及装置，射频门内部设置有多个电子标签和读写器天线，读写器天线连接至预先设置的读写器；所述方法包括：读写器在预设功率范围内以预设功率步长读取多个电子标签，获得每个功率点下所读到的电子标签的标识；其中，读写器在预设功率范围的最小值下读取不到任何电子标签，且读写器的预设实际工作功率位于预设功率范围内；根据每个功率点下所读到的电子标签的标识，获得多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值；根据多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值对读写器天线进行调试。本发明提供的技术方案，能够准确、快速地调试读写器天线，从而提高工作效率。

技术领域

本发明涉及射频测试技术领域，特别涉及一种基于射频门的读写器天线调试方法及一种基于射频门的读写器天线调试装置。

背景技术

在RFID(Radio Frequency Identification，射频识别)技术中，存在读写器和电子标签两端。射频信号在读写器和电子标签之间传播，从而实现读写器和电子标签之间的通信。在射频门应用环境中，读写器端通常采用多天线，电子标签通常有多个，这种方式是多读写器天线对多标签的通信方式。这种系统可以同时检测大量电子标签标定物品的出入库，在仓储管理、物流运输等方面具有明显的优势，可以避免大量的人工操作，提高工作效率。

在通过射频门对大量电子标签进行读取、识别之前，首先需要对位于射频门内部的读写器天线进行调试，以保证读写器天线的射频场可以覆盖到所有的标签位置。现有的天线调试技术，主要是引入射频功率计，将射频功率计放置在待测的标签位置，得到该位置的射频能量值，再根据每个标签位置的射频能量值来调整读写器天线。这种方法存在的问题是，由于在射频门内部引入了射频功率计，会导致射频门内的能量场分布发生变化，即，导致测出的每个标签位置处的射频能量值并不准确。而且，在标签数量较多时，例如，标签数量为100个时，使用100个射频功率计测试，会导致射频环境和单纯存在100个标签时候的区别很大，使得测试结果没有意义；或者测试中，使用100次射频功率计分别替代100个标签，这会导致测试时间长到无法忍受，并且测试环境与实际的100个标签的实际工作环境也不相同。上述缺点均导致现有技术无法对读写器天线进行准确、快速地调试。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在提出一种基于射频门的读写器天线调试方法及读写器天线调试装置，能够准确、快速地调试读写器天线，从而提高工作效率。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种基于射频门的读写器天线调试方法，所述读写器天线设置于所述射频门内部，所述射频门内部还设置有多个电子标签，所述读写器天线连接至预先设置的读写器；所述方法包括：

所述读写器在预设功率范围内以预设功率步长读取所述多个电子标签，获得每个功率点下所读到的电子标签的标识；其中，所述读写器在所述预设功率范围的最小值下读取不到任何电子标签，且所述读写器的预设实际工作功率位于所述预设功率范围内；

根据所述每个功率点下所读到的电子标签的标识，获得所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值；

根据所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值对所述读写器天线进行调试。

优选地，所述根据所述每个功率点下所读到的电子标签的标识，获得所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值，包括：

根据所述每个功率点下所读到的电子标签的标识，获得所述多个电子标签中每个电子标签所对应的最小读取功率值；

根据所述读写器的预设实际工作功率、所述多个电子标签中每个电子标签所对应的最小读取功率值和预先测试的所述多个电子标签中每个电子标签的标签灵敏度，计算所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值。

优选地，采用如下公式计算所述多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值：