[发明专利]一种楼层边界检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种楼层边界检测方法，其特征在于，包括：

获取水平钢筋的点云数据，基于预先建立的所述点云数据与初始栅格图中的栅格点的映射关系，确定所述点云数据对应的最大高度栅格图和所述最大高度栅格图对应的最大高度栅格掩膜图；

基于所述最大高度栅格掩膜图内各栅格点对应的高度值，确定基准面高度；

确定位于所述基准面高度处的竖直物体的点云数据对应的竖直物体区域掩膜图，根据所述竖直物体区域掩膜图和所述最大高度栅格掩膜图，确定有效区域检测结果，其中，所述竖直物体区域掩膜图为包括竖直物体和虚点的掩膜图；

对所述有效区域检测结果进行边界提取，将边界提取结果进行反投影，得到反投影结果，并将所述反投影结果作为楼层边界检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述基准面高度处的竖直物体的点云数据对应的竖直物体区域掩膜图，包括：

根据所述最大高度栅格掩膜图中高度大于或等于所述基准面高度处的竖直物体的点云数据确定密度阈值；

对于所述基准面高度处的竖直物体的点云数据对应的任一像素点，计算K近邻平均距离；

根据所述K近邻平均距离内的像素点的个数确定点云密度，将所述点云密度与所述密度阈值比较，根据密度比较结果生成所述竖直物体区域掩膜图。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述竖直物体区域掩膜图和所述最大高度栅格掩膜图，确定有效区域检测结果，包括：

根据所述竖直物体区域掩膜图的像素值确定所述竖直物体和所述虚点形成的目标区域图；

基于所述最大高度栅格掩膜图和所述目标区域图，生成所述有效区域检测结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

将高度小于所述基准面高度处的点云数据对应的掩膜图确定为无效区域掩膜图，并将高度大于或等于所述基准面高度处的点云数据对应的掩模图确定为薄膜区域掩膜图。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述竖直物体区域掩膜图和所述最大高度栅格掩膜图，确定有效区域检测结果，包括：

根据所述竖直物体区域掩膜图的像素值确定所述竖直物体和虚点的目标区域图；

基于所述最大高度栅格掩膜图、所述目标区域图、所述无效区域掩膜图以及所述薄膜区域掩膜图，确定所述有效区域检测结果。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将高度大于或等于所述基准面高度处的点云数据对应的掩模图确定为薄膜区域掩膜图，包括：

对高度大于或等于所述基准面高度处的点云数据进行聚类运算，得到聚类运算结果；

如果所述聚类运算结果只存在一个类别，且所述类别内的每个栅格对应的点云数据的最大高度与最小高度差小于预设薄膜厚度值，将高度大于或等于所述基准面高度处的点云数据对应的掩模图确定为薄膜区域掩膜图。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述有效区域检测结果进行边界提取，包括：

对所述有效区域检测结果内的冗余栅格点进行剔除；

对剔除冗余栅格点后的栅格点构建初始边界，根据所述初始边界内的栅格点的分布，将所述初始边界内缩，将内缩后的初始边界作为有效区域检测结果的边界提取结果。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述对剔除冗余栅格点后的栅格点构建初始边界，根据所述初始边界内的栅格点的分布，将所述初始边界内缩，将内缩后的初始边界作为有效区域检测结果的边界提取结果，包括：

对所述剔除冗余栅格点后的有效区域检测结果进行卷包裹计算，得到所述初始边界；

将所述初始边界内的当前栅格点与所述初始边界的线段两端点连接，构成三角形区域；

如果所述三角形区域内不存在栅格点，将所述初始边界内的当前栅格点添加至所述初始边界上，确定新的边界内的下一栅格点与所述新的边界内的线段两端点连接，构成新的三角形区域，直至新的三角形区域内存在栅格点。