[发明专利]一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法

权利要求书

1.一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法，其特征在于，包括步骤：

步骤a、粗调上测头与下测头，使两测头基本对中；

步骤b、放置标准量块至第一工作台上，并根据标准量块调整两测头，使两测头具有一定的预压量，在一定测量范围内具有示值；

步骤c、粗调上测头调节组件的微调件的姿态，使得上测头与标准量块上表面的垂直度误差小于微调件的最大调整范围；

步骤d、调整第一工作台在X轴方向和Y轴方向上移动，在工作台移动过程中，上测头在X轴方向和Y轴方向上的行程内的所有示值波动量均小于一定值；

步骤e、调整第一工作台在X轴方向和Y轴方向上移动，在工作台移动过程中，下测头在X轴方向和Y轴方向上的行程内的所有示值波动量均小于一定值；

步骤f、移除标准量块，调节上测头与下测头测帽相接触，沿X轴方向对上测头调节组件的微调件进行调节，沿Y轴方向对下测头调节组件的微调件进行调节，达到要求后，将上测头调节组件的微调件和下测头调节组件的微调件分别固定于量块比较仪上；

其中，所述高精度双测头量块比较仪包括：一底座(1)，所述底座(1)上设有上测头调节组件(2)、下测头调节组件(3)、双工作台(4)和工作台调节组件(5)，所述上测头调节组件(2)上安装有上测头(200)，所述下测头调节组件(3)上安装有下测头(300)，所述上测头调节组件(2)固定于所述底座(1)上，所述上测头调节组件(2)调节所述上测头(200)沿X轴方向、Y轴方向及Z轴方向移动；所述底座(1)上沿Y轴方向设有一凸台(10)，所述上测头调节组件(2)和所述下测头调节组件(3)安装在所述凸台(10)的一侧，所述工作台调节组件(5)活动连接于所述 凸台(10)的另一侧，所述双工作台(4)安装于所述工作台调节组件(5)上，并位于所述凸台(10)上方；所述工作台调节组件(5)调节所述双工作台(4)相对所述底座(1)进行X轴方向和Y轴方向的移动；

所述上测头调节组件(2)包括：第一螺杆(6)、滑块(7)、立柱(8)和第一微调件(20)，所述第一螺杆(6)与所述立柱(8)平行设置于所述底座(1)上，所述第一螺杆(6)一端设有一第一旋钮(61)，另一端穿过所述滑块(7)上的螺纹孔后连接于所述底座(1)上；所述第一微调件(20)可拆卸地安装于所述滑块(7)上；所述滑块(7)上沿X轴设有一第一小凸台(72)，所述第一微调件(20)通过第一条形孔(211)调节可沿所述第一小凸台(72)调节；

所述下测头调节组件(3)为一第二微调件，所述下测头调节组件(3)的第二微调件通过其上的第二条形孔沿第二小凸台(12)移动，实现对所述下测头调节组件(3)沿Y轴方向的调节；

所述第一微调件(20)和所述第二微调件分别包括：第一基板(21)、第一调节板(22)、第二基板(23)、第二调节板(24)，所述第一基板(21)和第一调节板(22)平行设置，两者的底部通过一第一弹性桥(25)相连接；所述第一调节板(22)一侧还垂直连接所述第二基板(23)，所述第二基板(23)的顶部通过一第二弹性桥(26)连接所述第二调节板(24)，所述第二调节板(24)与所述第二基板(23)相平行设置；所述第一调节板(22)和所述第二基板(23)上均设有一第一螺纹孔(27)和一第一通孔(28)，所述第一基板(21)对应所述第一通孔(28)的位置设有一第二螺纹孔；一螺丝穿过所述第一螺纹孔(27)抵触于所述第一基板(21)上，若该螺丝与第一基板(21)接触顶死后再继续拧紧，会使第一基板(21)与第一调节板(22)间的夹角变大；另一螺丝穿过所述第一通孔(28)后拧入至所述第二螺纹孔内，该螺丝通过第一通孔(28)后继续拧紧，会使第一基板(21)与第一调节板(22)间的夹角变小，两调节方式均起到对固定于所述第二调节板(24)上的上测头(200)沿Y轴的两个相反方向姿态调整的作用。

2.根据权利要求1所述的高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法，其特征在于，所述步骤a中上测头与下测头基本对中的调节方法为:沿Z轴方向粗调用于安装上测头组件的微调件的滑块，实现对上测头沿Z轴方向的调整；沿滑块上的第一小凸台调整上测头组件的微调件，实现对上测头沿X轴方向的调整；沿底座凸台一侧上的第二小凸台调整下测头调节组件的微调件，实现对下测头沿Y轴方向的调整；使得上测头与下测头基本对中。