[发明专利]一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法

说明书

本发明公开一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法，包括步骤：a、粗调上、下测头；b、根据标准量块调整两测头，使两测头具有一定的预压量；c、粗调上测头调节组件的微调件，使得上测头与标准量块上表面的垂直度误差小于微调件的最大调整范围；d、调整第一工作台在X和Y轴方向上移动，上测头在X和Y轴方向上行程内的所有示值波动量均小于一定值；e、调整第一工作台在X和Y轴方向上移动，下测头在X和Y轴方向上的行程内的所有示值波动量均小于一定值；f、移除标准量块，调节上、下测头测帽相接触，沿X轴方向对上测头调节组件的微调件调节，沿Y轴方向对下测头调节组件的微调件调节，达到要求后，将二者分别固定于量块比较仪上。

技术领域

本发明涉及高精度仪器设备技术领域，尤其涉及一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法。

背景技术

量块比较仪是比较测量量块长度的计量仪器。在精密位移测量中，95％以上的量块测量为比较测量，采用乌氏干涉仪或者其他类型比较测量仪器测量两个被测件的长度微差得到测量结果，在计量领域广泛应用。但现有技术中普遍使用的高精度量块比较仪一直采用单测头测量形式，测量时上测头与量块上表面接触，量块的下表面与工作台相接触进行测量，这种测量方法一定无法实现真正的高精度和高分辨率，且不符合国际测量标准。

基于此，研发一种真正高分辨率和高精度的量块比较仪并对其进行高精度的装配调整是本领域技术人员目前亟需解决的技术问题。

发明内容

为解决以上技术问题，本发明提供一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法，通过该方法调整后，比较仪的两测头与第一工作台的垂直精度非常高，调整方法简单高效，不必借助于其他工具便可以实现装配精度自我标定与调整。

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法，包括以下步骤：

步骤a、粗调上测头与下测头，使两测头基本对中；

步骤b、放置标准量块至第一工作台上，并根据标准量块调整两测头，使两测头具有一定的预压量，在一定测量范围内具有示值；

步骤c、粗调上测头调节组件的微调件的姿态，使得上测头与标准量块9上表面的垂直度误差小于微调件的最大调整范围；

步骤d、调整第一工作台在X轴方向和Y轴方向上移动，在工作台移动过程中，上测头在X轴方向和Y轴方向上的行程内的所有示值波动量均小于一定值；

步骤e、调整第一工作台在X轴方向和Y轴方向上移动，在工作台移动过程中，下测头在X轴方向和Y轴方向上的行程内的所有示值波动量均小于一定值；

步骤f、移除标准量块，调节上测头与下测头测帽相接触，沿X轴方向对上测头调节组件的微调件进行调节，沿Y轴方向对下测头调节组件的微调件进行调节，达到要求后，将上测头调节组件的微调件和下测头调节组件的微调件分别固定于量块比较仪上。

进一步地，所述步骤a中上测头与下测头基本对中的调节方法为:沿Z轴方向粗调用于安装上测头组件的微调件的滑块，实现对上测头沿Z轴方向的调整；沿滑块上的第一小凸台调整上测头组件的微调件，实现对上测头沿X轴方向的调整；沿底座凸台一侧上的第二小凸台调整下测头调节组件的微调件，实现对下测头沿Y轴方向的调整；使得上测头与下测头基本对中。

进一步地，所述步骤b包括：所述标准量块与第一工作台的T型腰槽相平行地放置于第一工作台上，调整上测头与标准量块上表面接触，调整下测头与标准量块下表面接触，且上、下测头示值均处于最大量程值的中间值。