[发明专利]热电阻的校验方法

权利要求书

1.一种热电阻的校验方法，其特征在于，包括：

获取热电阻对应的工作范围温度值，并计算所述工作范围温度值中的中选值；

通过所述中选值计算所述热电阻的线性度和偏差值，当所述线性度和偏差值均满足对应的预设要求，输出所述热电阻合格的结果；

当所述线性度和偏差值不满足对应的预设要求，获取所述热电阻的Gain和Offset系数，通过预设的系数修正方法对所述Gain和Offset系数进行修正；

所述通过预设的系数修正方法对所述Gain和Offset系数进行修正，包括：

获取所述热电阻的一般函数以及所述热电阻预设的标准转换系数；

设定所述热电阻的初始Gain和初始Offset；

根据所述一般函数、所述标准转换系数、所述初始Gain和初始Offset对所述Gain和Offset系数进行修正。

2.根据权利要求1所述的热电阻的校验方法，其特征在于，所述获取热电阻对应的工作范围温度值，并计算所述工作范围温度值中的中选值，包括：

对所述热电阻对应的工作范围进行温度采集，并根据预设的分组规则对所述温度采集的结果进行分组；

获取所述分组的结果中每组温度数据的中选值。

3.根据权利要求2所述的热电阻的校验方法，其特征在于，所述中选值，包括：

当所述分组的结果中温度数据的数量为偶数时，取所述温度数据中温度数值大小处于中间的两个温度数据的平均值为中选值；

当所述分组的结果中温度数据的数量为奇数时，取所述温度数据中温度数值大小处于中间的温度数据为中选值。

4.根据权利要求3所述的热电阻的校验方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述分组的结果中的温度数据与该组对应的中选值进行对比；

当对比的结果大于预设阈值时，将大于预设阈值的温度数据从该组中删除。

5.根据权利要求1所述的热电阻的校验方法，其特征在于，通过所述中选值计算所述热电阻的线性度和偏差值，包括：

获取所述中选值对应的标准二次曲线，并根据所述标准二次曲线获取对应的标准温度集合；

根据所述工作范围温度值获取所述热电阻对应的实际温度集合；

根据所述标准温度集合和所述实际温度集合之间的映射关系计算所述热电阻的线性度和偏差值。

6.根据权利要求1-5任一项所述的热电阻的校验方法，其特征在于，所述方法还包括：

对删除的温度数据进行重新分组，并在所述重新分组对应的组别中计算热电阻的线性度和偏差值。

7.根据权利要求3所述的热电阻的校验方法，其特征在于，所述通过预设的系数修正方法对所述Gain和Offset系数进行修正之后，还包括：

检测修正后的热电阻的线性度和偏差值是否满足预设要求；

当所述修正后的热电阻的线性度和偏差值不满足预设要求，输出所述热电阻不合格的结果。