[发明专利]热电阻的校验方法

说明书

本发明实施例提供一种热电阻的校验方法，所述方法包括：通过获取热电阻对应的工作范围温度值，并计算工作范围温度值中的中选值；通过中选值计算热电阻的线性度和偏差值，当线性度和偏差值均满足对应的预设要求，输出热电阻合格的结果；当线性度和偏差值不满足对应的预设要求，获取热电阻的Gain和Offset系数，通过预设的系数修正方法对Gain和Offset系数进行修正。采用本方法能够提供了一种能够检测热电阻性能的方法，使得热电阻的性能得到保证，从而确保了核电厂的参数测量准确可靠。

技术领域

本发明涉及热电阻技术领域，尤其涉及一种热电阻的校验方法。

背景技术

核电厂的反应堆冷却剂系统在热管段和冷管段布置了大量的热电阻（RTD），用于对冷管段温度，热管段温度，一回路平均温度的测量。电厂控制和保护系统采集这些温度信号，参与反应堆功率计算以及反应堆功率调节。

在核电厂工作的过程中，为了保障一回路温度测量的准确性，需要在电厂寿期内按预定的间隔对这类仪表进行校准，确保一回路温度测量的准确性。

但目前对于这些热电阻进行校准存在难题，因为热电阻被安装到一回路现场后，拆卸过程会导致热电阻损坏，并且热电阻被安装在主管段上，用普通的方法对热电阻进行校准可能存在较高的辐射剂量。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明实施例提供一种热电阻的校验方法。

本发明实施例提供一种热电阻的校验方法，包括：

获取热电阻对应的工作范围温度值，并计算所述工作范围温度值中的中选值；

通过所述中选值计算所述热电阻的线性度和偏差值，当所述线性度和偏差值均满足对应的预设要求，输出所述热电阻合格的结果；

当所述线性度和偏差值不满足对应的预设要求，获取所述热电阻的Gain和Offset系数，通过预设的系数修正方法对所述Gain和Offset系数进行修正。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

对所述热电阻对应的工作范围进行温度采集，并根据预设的分组规则对所述温度采集的结果进行分组；

获取所述分组的结果中每组温度数据的中选值。

在其中一个实施例中，所述中选值，包括：

当所述分组的结果中温度数据的数量为偶数时，取所述温度数据中温度数值大小处于中间的两个温度数据的平均值为中选值；

当所述分组的结果中温度数据的数量为奇数时，取所述温度数据中温度数值大小处于中间的温度数据为中选值。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

将所述分组的结果中的温度数据与该组对应的中选值进行对比；

当对比的结果大于预设阈值时，将大于预设阈值的温度数据从该组中删除。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

获取所述中选值对应的标准二次曲线，并根据所述标准二次曲线获取对应的标准温度集合；

根据所述工作范围温度值获取所述热电阻对应的实际温度集合；

根据所述标准温度集合和所述实际温度集合之间的映射关系计算所述热电阻的线性度和偏差值。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

对删除的温度数据进行重新分组，并在所述重新分组对应的组别中计算热电阻的线性度和偏差值。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：