[发明专利]一种内孔测量规检具

权利要求书

1.一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体(5)，所述的塞规体(5)内部设置底部开放的腔室，其特征在于，所述的塞规体(5)的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体(5)的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧(3)；

还包括和1个第二测砧(6-2)，所述的第二测砧(6-2)轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧(6-2)的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧(3)的正中间；

所述的2个第一测砧(3)用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；

所述的第二测砧(6-2)的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧(6-2)的轴向位移；

所述的变径结构包括两个斜面(6-2-1)，所述的两个斜面(6-2-1)相交设置，交线与所述的第一测砧(3)的轴线垂直；

所述的两个斜面(6-2-1)均与所述的2个第一测砧(3)的端部抵触，所述的斜面(6-2-1)与所述的第二测砧(6-2)的轴线之间的夹角为28°20'～28°30'；

所述第一测砧(3)包括沿塞规体(5)的底圆直径方向依次设置的测头(3-1)、测砧本体、连接传动杆(3-2)和传动支撑座(3-3)；

所述的测头(3-1)穿设在所述塞规体(5)的侧壁上，所述的测砧本体经过连接传动杆(3-2)与所述的传动支撑座(3-3)连接，所述的传动支撑座(3-3)与所述的第二测砧(6-2)接触；

所述的传动支撑座(3-3)沿测砧本体轴向的一侧设置用于卡接所述连接传动杆(3-2)的凹腔(3-3-3)，所述的凹腔(3-3-3)与所述的连接传动杆(3-2)相匹配；

所述的传动支撑座(3-3)沿测砧本体轴向的另一侧设置凸部(3-3-4)，所述的凸部(3-3-4)与所述的第二测砧(6-2)的变径结构接触，所述凸部(3-3-4)的形状为半圆球形。

2.根据权利要求1所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的塞规体(5)外壁套设可活动拆卸的限位件(4)；

还包括校对环规(1)，校对环规(1)用于对塞规体(5)底圆上的第一测砧(3)进行校对归零。

3.根据权利要求1所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的第二测砧(6-2)外部套设连接单元(6-1)，所述的连接单元(6-1)包括沿轴向自下而上依次设置的连接座、第一连接体(6-1-5)和第二连接体(6-1-6)；

所述的连接单元(6-1)通过弹簧片单元与所述的传动支撑座(3-3)连接。

4.根据权利要求3所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的弹簧片单元包括与所述的第二测砧(6-2)轴线平行的第一弹簧片(6-3)和第二弹簧片(6-4)。

5.根据权利要求4所述的内孔测量规检具，其特征在于，还包括连接固定在所述的塞规体(5)上端面的端盖(7)，所述的端盖(7)套在所述的第一连接体(6-1-5)外部。

6.根据权利要求5所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的第二测砧(6-2)顶部抵接设置测杆(9)，沿所述的测杆(9)轴向顶部设置安装段(9-1)，所述的安装段(9-1)外部套设第三弹簧(9-2)，所述的安装段(9-1)顶部连接设置检测件；

所述的测杆(9)和所述的第三弹簧(9-2)外部套设手柄(8)，所述的手柄(8)的底座(8-3)压在所述的端盖(7)上，所述的第二连接体(6-1-6)设置在所述的手柄(8)内部。

7.根据权利要求1所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的塞规体(5)底部设置挡板(2)。