[发明专利]一种内孔测量规检具

说明书

本发明公开一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体，塞规体内部设置底部开放的腔室，所述的塞规体的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧；还包括和1个第二测砧，所述的第二测砧轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧的正中间；所述的2个第一测砧用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；所述的第二测砧的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧的轴向位移。该检具无需人工调整，测量快速。提高了检测精度，更加快速有效检测轴承孔加工尺寸。

技术领域

本发明涉及量具检具技术领域，具体涉及一种内孔测量规检具。

背景技术

近年来，变速器产量日益增加，加工质量要求也在不断提升，壳体类零件中轴承孔一直采用内径百分表和校对规进行比对测量，轴承孔下方无结构支撑，为悬空结构，内径表操作过程中需要调试找到最小值，即为测量值，检测过程操作不便，操作手法不同，也会影响测量结果；测量截面随机，不固定。

发明内容

本发明的目的在于提供一种内孔测量规检具，用以解决现有技术中的壳体类零件中轴承孔内径测量时遇到的问题。

为了实现上述任务，本发明采用以下技术方案：

一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体，所述的塞规体内部设置底部开放的腔室，所述的塞规体的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧；

还包括和1个第二测砧，所述的第二测砧轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧的正中间；

所述的2个第一测砧用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；

所述的第二测砧的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧的轴向位移。

进一步的，所述的变径结构包括两个斜面，所述的两个斜面相交设置，交线与所述的第一测砧的轴线垂直；

所述的两个斜面均与所述的2个第一测砧的端部抵触，所述的斜面与所述的第二测砧的轴线之间的夹角为28°20'～28°30'。

进一步的，所述第一测砧包括沿塞规体的底圆直径方向依次设置的测头、测砧本体、连接传动杆和传动支撑座；

所述的测头穿设在所述塞规体的侧壁上，所述的测砧本体经过连接传动杆与所述的传动支撑座连接，所述的传动支撑座与所述的第二测砧接触。

具体的，所述的传动支撑座沿测砧本体轴向的一侧设置用于卡接所述连接传动杆的凹腔，所述的凹腔与所述的连接传动杆相匹配；

所述的传动支撑座沿测砧本体轴向的另一侧设置凸部，所述的凸部与所述的第二测砧的变径结构接触。

进一步的，所述的塞规体外壁套设可活动拆卸的限位件；

还包括校对环规，校对环规用于对塞规体底圆上的第一测砧进行校对归零。

进一步的，所述的第二测砧外部套设连接单元，所述的连接单元包括沿轴向自下而上依次设置的连接座、第一连接体和第二连接体；

所述的连接单元通过弹簧片单元与所述的传动支撑座连接。

具体的，所述的弹簧片单元包括与所述的第二测砧轴线平行的第一弹簧片和第二弹簧片。

进一步的，还包括连接固定在所述的塞规体上端面的端盖，所述的端盖套在所述的第一连接体外部。