[发明专利]基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置

权利要求书

1.一种基于频率属性预测薄储层厚度的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取工区内地震数据及测井资料，进行合成记录标定，确定目的层的位置；

进行三维地震层位解释，确定地震波到达目的层顶部的时间，以及地震波到达目的层底部的时间；

根据测井资料，确定薄储层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况；

根据目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况、地震波到达目的层顶部的时间以及地震波到达目的层底部的时间设定时窗，提取目的层频率属性；

根据测井资料，确定目的层地层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律；

根据三维地震层位解释与测井资料，确定目的层的地层厚度；

根据目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律以及目的层的地层厚度，对目的层频率属性进行校正；

根据校正后的目的层频率属性，预测薄储层厚度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律以及目的层的地层厚度，对目的层频率属性进行校正，包括：

根据公式F_r(i,j)＝F_t(i,j)-F(H_(i,j))+C校正目的层频率属性，其中，F_r(i,j)用于表示期望输出的第i线第j道频率属性的校正结果；F_t(i,j)用于表示第i线第j道频率属性；F(H_(i,j))用于表示地震波频率随目的层地层厚度变化的规律的表达式，C为常数，i、j的值均为正整数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测井资料包括声波时差曲线和密度曲线；

所述进行合成记录标定，确定目的层的位置，包括：

利用声波时差曲线确定声波曲线；

将相同深度点对应的声波曲线上的速度属性和密度曲线上的密度属性进行乘积，得到波阻抗曲线；

从地震数据中提取子波，对子波和波阻抗曲线进行褶积运算，得到合成记录；

将地震数据中井旁地震和合成记录进行最佳匹配，确定时深关系和目的层的位置。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据测井资料，确定薄储层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况，包括：

根据测井资料，确定工区内薄储层的厚度范围，建立薄储层厚度变化的正演模型，所述薄储层厚度变化的正演模型中，薄储层的厚度逐渐变化，其它岩层的厚度不变；

从地震数据中提取子波，将子波与薄储层厚度变化的正演模型进行褶积运算，生成第一地震道剖面；

根据第一地震道剖面，确定目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据测井资料，确定目的层地层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律，包括：

根据测井资料，确定工区内目的层的地层厚度范围，建立目的层地层厚度变化的正演模型，所述目的层地层厚度变化的正演模型中，目的层的地层厚度逐渐变化，其它岩层的厚度不变；

从地震数据中提取子波，将子波与目的层地层厚度变化的正演模型进行褶积运算，生成第二地震道剖面；

根据第二地震道剖面，确定目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据第二地震道剖面，确定目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律，包括：

从第二地震道剖面上获取至少两个目的层的地层厚度与对应的地震波频率值；

以目的层的地层厚度为横坐标，地震波频率值为纵坐标，将从第二地震道剖面上获取的至少两个目的层的地层厚度与对应的地震波频率值映射到坐标轴上，作为基本点；

利用基本点进行拟合，确定目的层的地层厚度与地震波频率的拟合曲线及拟合曲线的表达式，将拟合曲线的表达式作为目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律。