[发明专利]基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置

说明书

本申请公开了一种基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置，该方法包括：确定目的层的位置、地震波到达目的层顶部的时间，以及地震波到达目的层底部的时间；根据测井资料，确定薄储层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况；设定时窗，提取目的层频率属性；根据测井资料，确定目的层地层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律；根据三维地震层位解释与测井资料，确定目的层的地层厚度；根据目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律以及目的层的地层厚度，对目的层频率属性进行校正；根据校正后的目的层频率属性，预测薄储层厚度。本申请可以提高薄储层厚度预测的准确度。

技术领域

本申请涉及石油地球物理勘探技术领域，尤其涉及一种基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置。

背景技术

本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明实施例提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

目前，我国油田勘探对象多为厚度小于四分之一地震波波长的薄储层，如何确定薄储层的厚度也就成为了目前地震储层预测中重点研究的问题。薄储层厚度预测的方法主要包括两类，一类是高分辨率反演，如基于模型反演、地震统计学反演、波形特征指示反演等，这类方法从井间建立的高频模型出发，结合地震反演出高分辨率岩性剖面，但是采用这种方法的前提是工区内有足够数量的探井，且探井的分布较均匀，这样才能建立较合适的模型，因此本类方法的使用受到较大限制；另一类是利用地震属性，如振幅属性、频率属性、相位属性等进行预测，这类方法往往从正演模型出发，找出各种地震属性随储层厚度变化的规律，然后运用该规律分析地震数据，从而预测薄储层厚度及分布。但是在实际地层中，不只是薄储层厚度在变化，薄储层所在的目的层、上覆地层或下伏地层的厚度也在变化，这种变化引起的地震响应要明显大于薄储层厚度变化引起的地震响应，从而导致薄储层厚度预测的准确率低。

以频率属性为例，由于薄储层在地震剖面上无法观测到顶底的反射，但能够引起频率值的变化，因此利用频率值的横向变化预测薄储层厚度是可行的，这也是目前广泛应用的技术。但引起频率变化的因素除薄储层厚度外还有其他因素，这些因素都会对薄储层厚度预测产生干扰，导致薄储层厚度的预测结果不准确。

发明内容

本申请实施例提供一种基于频率属性预测薄储层厚度的方法，用以提高基于频率属性预测薄储层厚度时的准确度，该方法包括：

获取工区内地震数据及测井资料，进行合成记录标定，确定目的层的位置；进行三维地震层位解释，确定地震波到达目的层顶部的时间，以及地震波到达目的层底部的时间；根据测井资料，确定薄储层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况；根据目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况、地震波到达目的层顶部的时间以及地震波到达目的层底部的时间设定时窗，提取目的层频率属性；根据测井资料，确定目的层地层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律；根据三维地震层位解释与测井资料，确定目的层的地层厚度；根据目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律以及目的层的地层厚度，对目的层频率属性进行校正；根据校正后的目的层频率属性，预测薄储层厚度。

本申请实施例还提供一种基于频率属性预测薄储层厚度的装置，用以基于频率属性预测薄储层厚度时的准确度，该装置包括：