[发明专利]X射线相位成像装置在审

专利信息
申请号: 202011178422.X 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112869756A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 佐野哲;田边晃一;和田幸久;德田敏;堀场日明;森本直树 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 相位 成像 装置
【说明书】:

发明提供一种X射线相位成像装置。该X射线相位成像装置具备图像处理部,该图像处理部基于在相位对比度图像中沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变的分布状态,来校正该渐变。

技术领域

本发明涉及一种X射线相位成像装置。

背景技术

以往,已知一种一边使被摄体与摄像系统相对地平移一边拍摄被摄体的X射线相位成像装置。这种装置例如在日本特开2017-44603号公报中被公开。

在上述日本特开2017-44603号公报中公开了一种用于拍摄试样(被摄体)的放射线检查装置(X射线相位成像装置),其具备射线源部、光栅组、检测部、搬送部以及图像生成部。该放射线检查装置构成为:一边通过搬送部使试样相对于射线源部、光栅组以及检测部(摄像系统)平移一边拍摄试样。另外,该放射线检查装置构成为:通过图像生成部,基于一边通过搬送部使试样相对于射线源部、光栅组以及检测部平移一边获取到的多个强度分布图像来生成放射线图像(相位对比度图像)。

在此,虽然在上述日本特开2017-44603号公报中没有明确记载,但本申请发明人得到以下新的发现:在如上述日本特开2017-44603号公报中记载的放射线检查装置那样基于一边使被摄体与摄像系统相对地平移一边获取到的多个图像来生成相位对比度图像的情况下,在相位对比度图像中沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的方向产生渐变(色调、明暗等的阶段性变化),因此存在难以看到相位对比度图像这样的问题(课题)。

发明内容

本发明是为了解决本申请发明人新发现的如上所述的课题而完成的,本发明的一个目的在于提供一种能够抑制由于在相位对比度图像中产生的渐变而难以看到相位对比度图像的情况X射线相位成像装置。

为了实现上述目的,本发明的一个方面的X射线相位成像装置具备:X射线源;检测器,其检测从X射线源照射出的X射线;多个光栅,所述多个光栅配置在X射线源与检测器之间;移动机构,其使被摄体与摄像系统相对地平移,该摄像系统由X射线源、检测器以及多个光栅构成;以及图像处理部,其基于一边通过移动机构使被摄体与摄像系统相对地平移一边获取到的多个图像来生成相位对比度图像,并且基于沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变的分布状态来校正该渐变。

根据本发明,如上所述,基于一边通过移动机构使被摄体与摄像系统相对地平移一边获取到的多个图像来生成相位对比度图像,并且基于在相位对比度图像中沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变的分布状态来校正该渐变。由此,能够去除在相位对比度图像中沿着从X射线的光轴方向看来与平移方向正交的正交方向产生的渐变,因此能够抑制由于在相位对比度图像中产生的渐变而难以看到相位对比度图像的情况。

附图说明

图1是示出一个实施方式的X射线相位成像装置的整体结构的示意图。

图2是用于说明一个实施方式的X射线相位成像装置中的多个光栅的配置和构造的示意图。

图3是用于说明一个实施方式的光栅位置调整机构的结构的示意图。

图4是示出一个实施方式的X射线相位成像装置获取的多个图像的示意图。

图5是用于说明获取一个实施方式的X射线相位成像装置所获取的莫尔条纹的相位信息的结构的示意图。

图6是示出一个实施方式的将多个图像的各像素的各相位值与各像素值以一对一的关系进行对应所得到的强度信号曲线的示意图。

图7是示出一个实施方式的图像处理部生成的相位对比度图像的示意图。

图8是用于说明在一个实施方式的图像处理部生成的相位对比度图像中产生的渐变的示意图。

图9是用于说明一个实施方式的图像处理部获取的相位对比度图像的像素值的分布的示意图。

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