[发明专利]一种用于飞行试验返回的电子产品重复使用评估方法

权利要求书

1.一种用于飞行试验返回的电子产品重复使用评估方法，包括：

S1.获取待评估的电子产品的性能参数，并基于所述性能参数制定所述电子产品的可重复使用能力分析与评估方案；

S2.基于所述可重复使用能力分析与评估方案对所述电子产品进行可重复使用能力分析和评估，并确定所述电子产品的重复使用次数；

S3.若所述电子产品的重复使用次数满足要求，则对所述电子产品经历飞行试验后的状态进行产品状态综合评估，并获取第一结果；

S4.基于所述第一结果判断所述电子产品是否重复使用。

2.根据权利要求1所述的电子产品重复使用评估方法，其特征在于，所述可重复使用能力分析与评估方案包括：

环境影响因素分析子方案，用于在设定的环境影响因素下，对所述电子产品进行分析；

力学条件分析子方案，用于在设定的力学条件下，对所述电子产品进行分析；

验收试验时间或次数寿命分析子方案，用于在所述力学条件分析子方案设定的力学条件下，对所述电子产品的试验时间或试验次数进行分析；

重复使用试验验证子方案，用于对所述电子产品进行试验验证；

重复使用次数分析评估子方案，基于所述验收试验时间或次数寿命分析子方案和所述重复使用试验验证子方案中获得的分析结果对所述电子产品的重复使用次数进行综合评估。

3.根据权利要求2所述的电子产品重复使用评估方法，其特征在于，步骤S2中包括：

S21.基于所述环境影响因素分析子方案对所述电子产品进行分析；

S22.基于所述力学条件分析子方案对所述电子产品进行分析，其中，采用所述电子产品的验收级和鉴定级力学环境设计条件，分析所述电子产品在鉴定级与验收级的余量；

S23.基于所述验收试验时间或次数寿命分析子方案对所述电子产品进行分析，其中，采用所述电子产品的验收级和鉴定级力学环境设计条件，获取所述电子产品所能允许的最长验收级力学环境试验时间或试验次数；

S24.基于所述重复使用试验验证子方案对所述电子产品进行分析，其中，获取与所述电子产品相同批次的新产品并基于所述力学条件分析子方案中的验收级和鉴定级力学环境设计条件，重复多次试验并获取相应的试验结果，将所述试验结果与所述步骤S23中获得的分析结果进行比对，基于比对结果对所述电子产品是否可重复使用的合理性进行验证并获取验证结果；

S25.基于重复使用次数分析评估子方案对所述电子产品进行分析，其中，基于步骤S23中获得的所述分析结果和步骤S24中获得的所述验证结果确定所述电子产品的重复使用次数。

4.根据权利要求3所述的电子产品重复使用评估方法，其特征在于，步骤S23中，采用所述电子产品的验收级和鉴定级力学环境设计条件，获取所述电子产品所能允许的最长验收级力学环境试验时间或试验次数的步骤中，包括：

S231.获取针对所述电子产品的寿命分析关系式；

S232.基于所述寿命分析关系式，并结合所述电子产品的鉴定级和验收级力学环境条件，分析所述电子产品的寿命与验收级力学环境的对应关系；

S233.基于所述对应关系获取所述电子产品所能允许的最长验收级力学环境试验时间或试验次数。

5.根据权利要求4所述的电子产品重复使用评估方法，其特征在于，步骤S231中，所述电子产品的寿命分析关系式为：

t_A＝(t_Q)(2)^(a/6)(M-S-K)

其中，t_A为验收试验时间与飞行试验时间总和，它产生在鉴定试验持续时间内等效的累积疲劳破坏；

t_Q为鉴定振动试验持续时间；

a为产品中对疲劳敏感材料的应力与循环次数关系的疲劳曲线斜率的倒数；

M为鉴定与验收振动试验输入之间的余量，dB；

S为常数，当鉴定产品及验收产品的制造工艺一致时，S为2，当鉴定产品与验收产品的制造工艺存在区别时，S为3；

K为0.6～2之间的常数。