[发明专利]一种用于飞行试验返回的电子产品重复使用评估方法

说明书

本发明涉及一种用于飞行试验返回的电子产品重复使用评估方法，包括：S1.获取待评估的电子产品的性能参数，并基于所述性能参数制定所述电子产品的可重复使用能力分析与评估方案；S2.基于所述可重复使用能力分析与评估方案对所述电子产品进行可重复使用能力分析和评估，并确定所述电子产品的重复使用次数；S3.若所述电子产品的重复使用次数满足要求，则对所述电子产品经历飞行试验后的状态进行产品状态综合评估，并获取第一结果；S4.基于所述第一结果判断所述电子产品是否重复使用。本方案为产品在再次执行飞行试验的放行评估提供了依据。

技术领域

本发明涉及航空航天领域，尤其涉及一种用于飞行试验返回的电子产品重复使用评估方法。

背景技术

随着航天事业的飞速发展，航天器发射频率不断提高，运营规模不断扩大。面对日益高密度的航天任务需求，降低航天器成本、缩短研制周期成为推动航天事业持续、健康、快速发展的必由之路。

航天器飞行试验返回产品主要包括机械类产品、机电类产品和电子类产品等。其中电子类产品由于含有大量昂贵的元器件，该类产品在航天器研制成本中占据较高比例。因此实现电子产品在飞行试验后的重复使用，是研究返回产品重复使用的一个重要方向。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于飞行试验返回的电子产品重复使用评估方法，用于实现电子产品的可重复使用。

为实现上述发明目的，本发明提供一种用于飞行试验返回的电子产品重复使用评估方法，包括：

S1.获取待评估的电子产品的性能参数，并基于所述性能参数制定所述电子产品的可重复使用能力分析与评估方案；

S2.基于所述可重复使用能力分析与评估方案对所述电子产品进行可重复使用能力分析和评估，并确定所述电子产品的重复使用次数；

S3.若所述电子产品的重复使用次数满足要求，则对所述电子产品经历飞行试验后的状态进行产品状态综合评估，并获取第一结果；

S4.基于所述第一结果判断所述电子产品是否重复使用。

根据本发明的一个方面，所述可重复使用能力分析与评估方案包括：

环境影响因素分析子方案，用于在设定的环境影响因素下，对所述电子产品进行分析；

力学条件分析子方案，用于在设定的力学条件下，对所述电子产品进行分析；

验收试验时间或次数寿命分析子方案，用于在所述力学条件分析子方案设定的力学条件下，对所述电子产品的试验时间或试验次数进行分析；

重复使用试验验证子方案，用于对所述电子产品进行试验验证；

重复使用次数分析评估子方案，基于所述验收试验时间或次数寿命分析子方案和所述重复使用试验验证子方案中获得的分析结果对所述电子产品的重复使用次数进行综合评估。

根据本发明的一个方面，步骤S2中包括：

S21.基于所述环境影响因素分析子方案对所述电子产品进行分析；

S22.基于所述力学条件分析子方案对所述电子产品进行分析，其中，采用所述电子产品的验收级和鉴定级力学环境设计条件，分析所述电子产品在鉴定级与验收级的余量；

S23.基于所述验收试验时间或次数寿命分析子方案对所述电子产品进行分析，其中，采用所述电子产品的验收级和鉴定级力学环境设计条件，获取所述电子产品所能允许的最长验收级力学环境试验时间或试验次数；