[发明专利]覆膜玻璃的带膜检测方法及其结构在审

专利信息
申请号: 202011190807.8 申请日: 2020-10-30
公开(公告)号: CN112213318A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 王郑;王岩松;和江镇;刘运奔;陈晨;毛海杰 申请(专利权)人: 征图新视(江苏)科技股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 常州品益专利代理事务所(普通合伙) 32401 代理人: 王涵江
地址: 213161 江苏省常州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 玻璃 检测 方法 及其 结构
【权利要求书】:

1.一种覆膜玻璃的带膜检测方法,其特征在于:包括以下步骤,

1)在带有底膜的待测产品上方设置光源和相机;并且在带有底膜的待测产品的上方、光源的下方设置遮挡部分光源光线的遮挡物;

2)调整遮挡物的位置,使遮挡物遮挡的长度大于光斑的距离;

3)通过相机进行图像采集。

2.如权利要求1所述的覆膜玻璃的带膜检测方法,其特征在于:所述的步骤1)中,相机为线扫相机,光源为条形光源。

3.如权利要求1所述的覆膜玻璃的带膜检测方法,其特征在于:所述的遮挡物为不透光的片状或块状。

4.如权利要求1所述的覆膜玻璃的带膜检测方法,其特征在于:所述的遮挡物通过支架固定在带有底膜的待测产品与光源之间。

5.一种覆膜玻璃的带膜检测结构,其特征在于:包括相机、光源以及遮挡物,所述的相机以及光源设置于带有底膜的待测产品的上方;所述的遮挡物通过支架设置于带有底膜的待测产品的上方且遮挡光源发出的部分光线。

6.如权利要求5所述的覆膜玻璃的带膜检测方法,其特征在于:所述的光源发出的未被遮挡物遮挡的光线在带有底膜的待测产品上表面进行反射,并且经过带有底膜的待测产品折射后在底膜形成反射光线;所述的光源发出的部分被遮挡物遮挡的光线没有在带有底膜的待测产品上表面进行反射。

7.如权利要求5所述的覆膜玻璃的带膜检测方法,其特征在于:所述的相机为线扫相机,光源为条形光源;所述的遮挡物为不透光的片状或块状。

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