[发明专利]覆膜玻璃的带膜检测方法及其结构

说明书

本发明涉及一种覆膜玻璃的带膜检测方法及其结构，包括相机、光源以及遮挡物，相机以及光源设置于带有底膜的待测产品的上方；遮挡物通过支架设置于带有底膜的待测产品的上方且遮挡光源发出的部分光线，通过相机进行图像采集。本发明可以去除底膜的干扰，无需撕膜可以直接检测，检测后也无需贴膜，可以节约很大一部分的成本；不会形成二次污染的问题；无需撕膜检测，没有撕膜失败或撕膜效果较差、二次污染、贴膜失败或贴膜效果差等问题，直接提高产品良率。

技术领域

本发明涉及视觉检测技术领域，尤其是一种覆膜玻璃的带膜检测方法及其结构。

背景技术

缺陷检测通常是指对物品表面缺陷的检测，表面缺陷检测是采用先进的机器视觉检测技术，对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测，缺陷检测技术一直是检测方面的重点难题，但是目前市场上并没有完善的解决方法，由于缺陷检测技术要求较高，并且厂商要求的漏判率和误判率都要求极高，所以缺陷检测一直是一个让人头疼的难题。

目前市场上对于带膜检测的技术不成熟，对于带膜产品的检测设备的流程为撕膜、检测、贴膜。撕膜工位有人工撕膜和机器撕膜，这两种都会产生一定的成本且存在撕膜失败的可能，在检测结束后由于产品摄像头需要保护还需将撕掉的底膜重新贴上去，贴膜需要自动化贴膜设备和定制底膜材料，并且过程中可能会出现二次污染的问题以及贴膜失败的问题，贴膜的工位使用的还必须是定制产品底膜，这样一套流程走下来，设备面临的风险比较多，且设备成本和产品成本会有一定的上浮。由于现有的技术，检测是需要撕膜，在撕膜到贴膜的过程，如果外部环境无法做到较高的洁净度，会形成比较严重的二次污染，会大大增加漏检的风险。现有技术存在较多的因素会影响产品的良率，不仅仅是检测设备自身存在的漏检率，还有其他方面的影响，比如撕膜失败或撕膜效果较差、二次污染、贴膜失败或贴膜效果较差都会直接影响产品的良率。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提供一种覆膜玻璃的带膜检测方法及其结构，可以实现玻璃产品的带膜检测，可以达到与撕膜检测一样的检出水准，解决了玻璃产品的带膜检测的技术难题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种覆膜玻璃的带膜检测方法，包括以下步骤，

1)在带有底膜的待测产品上方设置光源和相机；并且在带有底膜的待测产品的上方、光源的下方设置遮挡部分光源光线的遮挡物；

2)调整遮挡物的位置，使遮挡物遮挡的长度大于光斑的距离；

3)通过相机进行图像采集。

进一步的说，本发明所述的步骤1)中，相机为线扫相机，光源为条形光源。

再进一步的说，本发明所述的遮挡物为不透光的片状或块状。

再进一步的说，本发明所述的遮挡物通过支架固定在带有底膜的待测产品与光源之间。

同时，本发明还提供一种覆膜玻璃的带膜检测结构，包括相机、光源以及遮挡物，所述的相机以及光源设置于带有底膜的待测产品的上方；所述的遮挡物通过支架设置于带有底膜的待测产品的上方且遮挡光源发出的部分光线。

进一步的说，本发明所述的光源发出的未被遮挡物遮挡的光线在带有底膜的待测产品上表面进行反射，并且经过带有底膜的待测产品折射后在底膜形成反射光线；所述的光源发出的部分被遮挡物遮挡的光线没有在带有底膜的待测产品上表面进行反射。

本发明的有益效果是，解决了背景技术中存在的缺陷，

1、节约使用成本：可以去除底膜的干扰，无需撕膜可以直接检测，检测后也无需贴膜，可以节约很大一部分的成本。

2、避免二次污染：由于不存在撕膜的问题，所以不会形成二次污染的问题。