[发明专利]测量装置、电梯系统以及测量方法在审
申请号: | 202011213220.4 | 申请日: | 2020-11-03 |
公开(公告)号: | CN113307115A | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 大西义人;井上真辅;近藤健史;大沼直人 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | B66B1/30 | 分类号: | B66B1/30;B66B1/34;B66B5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴秋明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 电梯 系统 以及 测量方法 | ||
1.一种测量装置,其特征在于,具备:
设置于所述移动体的多个测量部,产生栅极信号,响应于所述栅极信号而发送对沿着移动体的移动通道配置的静止构造物进行照明的光,将来自所述静止构造物的反射光成像,以由所述栅极信号规定的曝光时间将成像的反射光获取到摄像面,将基于获取的反射光的光信号变换为电信号,将变换后的电信号作为图像进行处理,根据处理后的图像计算出所述移动体的移动所涉及的信息;以及
判定部,对从所述多个测量部各自输出的所述移动体的移动所涉及的信息进行比较处理,基于所述比较处理的结果,判定所述多个测量部所涉及的异常。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其中,
所述多个测量部分别具备:定时控制部,产生所述栅极信号;光发送部,响应于所述栅极信号,发送对所述静止构造物进行照明的光;以及图像处理部,根据所述图像计算所述移动体的移动所涉及的信息,
所述多个测量部具备:与所述静止构造物相对配置且对来自所述静止构造物的反射光进行成像的各个或者公共的成像部,
所述多个测量部具备:以由所述栅极信号规定的曝光时间,将通过所述成像部成像的反射光获取到所述摄像面,将基于获取的反射光的光信号变换为电信号的各个或者公共的摄像部。
3.根据权利要求1所述的测量装置,其中,
所述判定部基于所述移动体的移动所涉及的信息以及/或者所述图像,对所述多个测量部所涉及的异常的种类进行鉴别。
4.根据权利要求1所述的测量装置,其中,
所述测量部在与所述栅极信号的产生周期相当的帧周期依次获取所述电信号,根据获取的各电信号生成每个帧的图像,计算生成的多帧图像中的第1帧图像中的第1测量对象图像与第2帧图像中的测量对象图像即与所述第1测量对象图像对应的第2测量对象图像之间产生的图像上的偏移,根据计算出的偏移和表示所述第1帧与所述第2帧的时间差的时间之比,计算所述移动体的移动速度。
5.根据权利要求2所述的测量装置,其中,
所述定时控制部对所述光发送部和所述摄像部在相同的定时输出第1栅极信号,然后,对所述摄像部在与所述第1栅极信号不同的定时输出第2栅极信号,
所述光发送部响应于所述第1栅极信号,发送对所述静止构造物进行照明的光,
作为所述摄像面,所述摄像部具备:第1摄像面,响应于所述第1栅极信号,以由所述第1栅极信号规定的第1曝光时间对来自所述成像部的所述光的反射光进行获取;以及第2摄像面,响应所述第2栅极信号,以由所述第2栅极信号规定的第2曝光时间对来自所述成像部的所述光的反射光进行获取,
所述图像处理部基于所述第1摄像面的电信号、所述第2摄像面的电信号、在所述第1摄像面进行了获取的时间和在所述第2摄像面进行了获取的时间,计算所述光作为反射光入射到所述摄像部的所述第1摄像面为止的传递时间,基于计算出的所述传递时间和所述光的速度,计算从所述移动体到所述静止构造物的距离。
6.根据权利要求2所述的测量装置,其中,
所述成像部具备:将来自所述静止构造物的反射光进行聚光的第1透镜;以及对所述反射光的光量进行限制的光圈,
关于所述光圈,所述光圈的中心与所述第1透镜的光轴设置在相同直线上,并且设置在所述第1透镜的焦点位置。
7.根据权利要求2所述的测量装置,其中,
所述成像部具备:第1透镜,对来自所述静止构造物的反射光进行聚光;光圈,对所述反射光的光量进行限制;以及第2透镜,配置在所述光圈与所述摄像面之间,对通过所述光圈限制了光量的反射光进行聚光,
关于所述光圈,所述光圈的中心与所述第1透镜的光轴设置在相同的直线上,并且设置在所述第1透镜的焦点位置,
关于所述第2透镜,所述第2透镜的光轴与所述第1透镜的光轴设置在相同的直线上。
8.根据权利要求2所述的测量装置,其中,
所述多个测量部具备公共的所述成像部,
所述成像部分别与所述光发送部对应地,对所述光发送部各自发送的光的来自所述静止构造物的反射光进行成像。
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