[发明专利]一种数据存储保护方法及装置

说明书

本发明提供一种数据存储保护方法及装置，所述方法包括如下步骤：S1.为存储系统中向SSD的FLASH并行发送数据的lun数量设置上限阈值；S2.将存储系统的过流保护模块设置为可调；S3.通过FIO压力工具，并根据lun并发数量上限阈值，对存储系统进行读写压力测试，验证SSD的FLASH中存储数据是否有效，并在存储数据无效时，通过调整过流保护模块提升保护电流上限。本发明通过设置并行发送数据的lun数量上限阈值，降低了数据并发时负载峰值电流；通过微调过流保护电阻及输出电感值提高过流保护阈值上限，保证过流保护余量充足，防止存储系统过流保护误动作导致的线路不稳定，有效保护存储数据，提高存储产品稳定性。

技术领域

本发明属于服务器大数据存储技术领域，具体涉及一种数据存储保护方法及装置。

背景技术

FIO是一个I/O工具用来对硬件进行压力测试和验证，支持13种不同的I/O 引擎。

OVP，是over current protect是简称，过流保护。

SSD，是Solid State Disk或Solid State Drive的简称，固态驱动器，俗称固态硬盘。

lun，Logical Unit Number的简称，也就是逻辑单元号。

在云计算时代，海量数据存储传输需要大容量的存储载体平台，然而通常这种大容量的存储载体，不同系统服务器搭载的存储载体有着不同的要求，随着数据运算存储效率的提高，SSD在存储服务系统得到了广泛的应用，并经受住了大量的考验，一方面在容量上不断得到升级扩充，另一方面在性能得到不断的提升。然而在技术不断革新变化的同时，在存储研发过程中，SSD的容量升级对硬件设计领域可靠性要求更高，低容量时的软件版本在高容量时兼容性与稳定性出现偶发性的问题，SSD执行FIO高压读写操作过程中，偶发数据存储乱码，对于存储服务器系统数据存储业务，工作在高量数据存储状态下存在数据存储风险。

而出现数据存储风险的原因是，触发硬件电源保护机制，OCP保护上限阈值设置存在高存储容量下覆盖不足的问题。执行FIO测试时，主要的电压功耗集中在 P2V5_NAND_VCC上，硬件设计之初根据评估以≤4A(Imax)的负载电流作为设计， OCP通过外接电阻RL按1.3xImax(6A)设定，传统软件数据存储策略，运行FIO 测试时采用数据并发方式，多个lun同步向所有的NAND flash发送数据，低容量 SSD的nandflash较少，数据量发送传输时，负载电流需求低，不会触发电源的OCP，但当SSD的Nandflash颗粒数量增多，容量上升至8T以上时，运行FIO测试，采用数据同步并发的方式，大概率出现主控复位异常，数据丢失的情况。

首先，高容量SSD硬件设计阈值余量不足：FIO测试，数据存储高并发时，底单对P2V5_NAND_VCC的电流需求超过OCP保护阈值(＞6A)，就会触发Power OCP 保护，导致主控复位，出现存在数据丢失的风险；其次，FIO测试，现有存储策略的多个lun同步并发，一旦并发lun数量过多，就会导致负载电流超出阈值。

此为现有技术的不足，因此，针对现有技术中的上述缺陷，提供一种数据存储保护方法及装置，是非常有必要的。

发明内容

针对现有技术的上述现有存储容量升级后，并发存储出现过流保护，导致存储数据丢失的缺陷，本发明提供一种数据存储保护方法及装置，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提供一种数据存储保护方法，包括如下步骤：

S1.为存储系统中向SSD的FLASH并行发送数据的lun数量设置上限阈值；

S2.将存储系统的过流保护模块设置为可调；