[发明专利]一种瞬态毒侵探测系统及方法

说明书

本发明提供了一种瞬态毒侵探测系统及方法。系统包括样品靶室、第一脉冲光调制器、偏振分束器、第二脉冲光调制器、偏振片和信息处理器。先将被测样品放入样品靶室，激光信号依次经第一脉冲光调制器和偏振分束器，于所述偏振分束器产生第一偏振激光和第二偏振激光，所述第一偏振激光进入样品靶室冲击被测样品；同时泵浦激光依次经第二脉冲光调制器和偏振片进入样品靶室冲击被测样品，所述被测样品经所述第一偏振激光和所述泵浦激光的冲击产生荧光。将第二偏振激光和荧光送入信息处理器，作为二阶关联函数的输入，通过观察二阶关联函数值的变化，实现对被测样品瞬态毒侵过程的探测。

技术领域

本发明涉及瞬态动力学技术领域，特别是涉及一种瞬态毒侵探测系统及方法。

背景技术

在瞬态动力学领域中，瞬态毒侵是指外部因素在极短时间内由外界侵入目标系统，并迅速改变目标系统的物理及化学动力学性质。通过探测瞬态毒侵过程，能获知目标系统在瞬态毒侵影响下相关参数的变化，进而为目标系统的研究提供基础。

但现有技术中并不存在用于探测瞬态毒侵过程的具体装置，不能基于具体装置实现瞬态毒侵过程的探测和目标系统量子相关参数的研究。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种瞬态毒侵探测系统及方法，通过接收激光信号源依次经第一脉冲光调制器和偏振分束器分束得到的第二偏振激光信息，以及在第一偏振激光和泵浦激光的冲击下被测样品发出的荧光信息，结合二阶关联函数探测被测样品在瞬态毒侵过程中量子相关参数的变化情况。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种瞬态毒侵探测系统，系统包括：

样品靶室，用于盛放被测样品；

第一脉冲光调制器，用于调制所接收的激光信号源发出的激光信号；

偏振分束器，用于接收经所述第一脉冲光调制器调制后的激光信号，并对调制后的激光信号分束，得到与所述激光信号方向相同的第一偏振激光和与所述激光方向不同的第二偏振激光；并使所述第一偏振激光入射到所述样品靶室内，使所述第二偏振激光经信息处理器的第一输入端进入所述信息处理器；

第二脉冲光调制器，用于调制所接收的泵浦信号源发出的泵浦激光；

偏振片，用于接收经所述第二脉冲光调制器调制后的泵浦激光，并对调制后的泵浦激光产生偏振作用，得到偏振泵浦激光，使所述偏振泵浦激光入射到所述样品靶室内；

所述被测样品经所述第一偏振激光和所述偏振泵浦激光冲击得到荧光，所述荧光经所述信息处理器的第二输入端进入所述信息处理器；

所述信息处理器分别以第一偏振激光和荧光作为二阶关联函数的输入，利用二阶关联函数探测出被测样品的瞬态毒侵过程。

本发明还介绍了一种瞬态毒侵探测方法，基于所述信息处理器对被测样品的瞬态毒侵过程进行探测。

根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：

1)激光信号源依次经第一脉冲光调制器和偏振分束器产生第一偏振激光，直射样品靶室内的被测样品；同时，激光泵浦源依次经第二脉冲光调制器和偏振片产生偏振泵浦激光，直射样品靶室内的被测样品。被测样品中分子聚集体内的单分子在第一偏振激光和泵浦激光的冲击下由基态转变为激发态，经电子转移步骤动力学过程(指被测样品在电极/溶液界面得到电子或失去电子，还原或氧化为新物质的过程)产生荧光。至少一个出射接收器接收该荧光信号并送入信息处理器，信息处理器根据荧光光谱分析出电子转移所需能量，进而测量出被测样品中分子聚集体的局域能量。