[发明专利]基于同位素或其二级质谱离子同位素丰度分布的质谱定量分析方法

权利要求书

1.一种基于同位素或其二级质谱离子同位素丰度分布的质谱定量分析方法，其特征在于包括如下步骤：

(1)确定待测物与工作对照品的同位素分布情况及多反应监测离子对；

(2)利用一级质谱同位素分布规律或二级离子同位素分布规律计算工作对照品中各个同位素峰或MRM离子对对应的浓度；

(3)利用工作对照品母离子同位素峰([M+n+X]ⁱ⁺)或MRM离子对的峰面积与对应的浓度绘制校正曲线；

(4)将待测物的同位素峰面积或MRM对应峰面积带入上述校正曲线，计算得出待测物浓度；

其中MRM表示多反应监测(Multiple Reaction Monitoring，MRM)，[M+n+X]ⁱ⁺中的M表示母离子分子量，n为1，2，3……；i表示离子所带电荷数，取值1，2，3……，X表示氢质子，铵根离子，金属离子质谱加和物，同位素标记系指稳定性同位素标记。

2.根据权利要求1所述的颗粒剂的分析方法，其特征在于：同位素标记系包括¹³C、²H、¹⁵N、¹⁸O、³⁷Cl、⁸¹Br、³⁴S。

3.根据权利要求1所述的颗粒剂的分析方法，其特征在于：质谱法利用同位素分布包括天然同位素分布和人工合成的同位素分布规律或其二级质谱同位素分布规律。