[发明专利]一种pnp触发的ggnmos结构在审

专利信息
申请号: 202011232123.X 申请日: 2020-11-06
公开(公告)号: CN112289789A 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 孙康明 申请(专利权)人: 重庆广播电视大学重庆工商职业学院
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 代理人: 蒙捷
地址: 400052 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 pnp 触发 ggnmos 结构
【权利要求书】:

1.一种pnp触发的ggnmos结构,包括基于动态衬底与衬底触发技术的GGNMOS结构,所述GGNMOS结构为多叉指并联版图结构,所述多叉指并联版图结构中位于中间位置的两个叉指为中央叉指,两个中央叉指的漏极连接在一起,其特征在于:两个中央叉指的漏极中间设置有第一N阱区,所述第一N阱区中依次隔离设置有第二N+注入区206、P+注入区103和第三N+注入区207,所述P+注入区103连接IO PAD,所述第二N+注入区206和第三N+注入区207与连接电源端VDD。

2.根据权利要求1所述的一种pnp触发的ggnmos结构,其特征在于:所述多叉指并联版图结构关于P+注入区103中心对称,两个中央叉指分别为关于P+注入区103中心对称的第一中央叉指和第二中央叉指,第一中央叉指和第二中央叉指的漏极为第一N+注入区203,所述第一中央叉指的源极为第四N+注入区202,所述第二中央叉指的源极为第五N+注入区204。

3.根据权利要求2所述的一种pnp触发的ggnmos结构,其特征在于:所述多叉指并联版图结构边缘设置有P+保护环101,所述P+保护环101接地。

4.根据权利要求3所述的一种pnp触发的ggnmos结构,其特征在于:所述P+保护环101和第四N+注入区202之间依次隔离设有第二N阱区和若干P阱区;P+保护环101和第五N+注入区204之间依次隔离设有第三N阱区和若干P阱区;所述P阱区对应多叉指并联版图结构中的叉指,其内设有nmos单元;所述第二N阱区内设有第六N+注入区201,所述第三N阱区内设有第七N+注入区205,第六N+注入区201和第七N+注入区205均连接IO PAD。

5.根据权利要求1或4所述的一种pnp触发的ggnmos结构,其特征在于:所述GGNMOS结构上的隔离结构均为STI结构。

6.根据权利要求4所述的一种pnp触发的ggnmos结构,其特征在于:所述nmos单元的栅极和漏极上均设有SAB硅化层301。

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