[发明专利]平行检测方法、设备、存储介质及装置

权利要求书

1.一种平行检测方法，其特征在于，所述平行检测方法包括以下步骤：

在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置；

在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息；

根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式；

将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果；

根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行；

所述将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果的步骤，具体包括：

对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率；

对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率；

根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值；

判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果；

根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果。

2.如权利要求1所述的平行检测方法，其特征在于，所述根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行的步骤之后，所述平行检测方法还包括：

在所述待检测模组与所述待检测平板不平行时，根据所述当前斜率差值确定当前移动策略；

根据所述当前移动策略控制所述待检测平板移动；

在所述待检测平板移动完成后，返回所述获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，直至所述待检测模组与所述待检测平板平行。

3.如权利要求1所述的平行检测方法，其特征在于，所述在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息的步骤，具体包括：

查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，并获取所述标准参考点的参考信息；

根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息。

4.如权利要求1所述的平行检测方法，其特征在于，所述根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式的步骤，具体包括：

根据所述当前位置信息确定所述目标参考点的当前坐标；

根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式。

5.如权利要求1-4中任一项所述的平行检测方法，其特征在于，所述在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，具体包括：

在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息；

根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置；

在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。

6.如权利要求5所述的平行检测方法，其特征在于，所述在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，具体包括：

在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，根据预设发光策略控制所述待检测模组运行，以使所述待检测模组产生检测光源；

在所述待检测模组产生所述检测光源时，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。

7.一种平行检测设备，其特征在于，所述平行检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的平行检测程序，所述平行检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的平行检测方法的步骤。

8.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有平行检测程序，所述平行检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的平行检测方法的步骤。

9.一种平行检测装置，其特征在于，所述平行检测装置包括：获取模块、选取模块、生成模块、比较模块和检测模块；

所述获取模块，用于在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置；

所述选取模块，用于在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息；

所述生成模块，用于根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式；

所述比较模块，用于将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果；

所述检测模块，用于根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行；

所述比较模块，还用于对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率；对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率；根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值；判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果；根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果。